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星载SRAM型FPGA电路单粒子敏感性分析方法研究

摘要第12-14页
Abstract第14-15页
第一章 绪论第16-32页
    1.1 研究背景和意义第16-21页
        1.1.1 研究背景与基本问题第16-19页
        1.1.2 论文的研究意义第19-21页
    1.2 论文研究的关键技术问题第21-23页
        1.2.1 FPGA在轨单粒子翻转率估计第21页
        1.2.2 FPGA电路单粒子敏感点分析第21-22页
        1.2.3 FPGA电路功能模块耦合度分析第22页
        1.2.4 FPGA电路单粒子失效率估计第22-23页
    1.3 关键技术问题的研究现状第23-30页
        1.3.1 FPGA在轨单粒子翻转率估计研究现状第24-25页
        1.3.2 FPGA电路单粒子敏感点分析研究现状第25-27页
        1.3.3 FPGA电路功能模块耦合度分析研究现状第27-28页
        1.3.4 FPGA电路单粒子失效率估计研究现状第28-30页
    1.4 论文主要研究内容第30-32页
第二章 FPGA在轨单粒子翻转率估计第32-54页
    2.1 空间辐射环境第32-36页
        2.1.1 空间辐射环境第32-34页
        2.1.2 典型卫星轨道及粒子成分第34-35页
        2.1.3 单粒子效应第35-36页
    2.2 FPGA在轨单粒子翻转率估计模型第36-39页
        2.2.1 FPGA单粒子敏感性第36-37页
        2.2.2 FPGA在轨单粒子翻转率估计模型第37-39页
    2.3 基于历史数据的在轨单粒子翻转率估计第39-46页
        2.3.1 FPGA在轨单粒子翻转率估计方法第40-41页
        2.3.2 典型算例分析第41-46页
    2.4 基于RBSP数据的在轨单粒子翻转率估计第46-52页
        2.4.1 范爱伦卫星探测数据分析第46-50页
        2.4.2 基于最小方差的估计第50-51页
        2.4.3 误差分析第51-52页
    2.5 本章小结第52-54页
第三章 FPGA电路单粒子敏感点分析第54-78页
    3.1 SRAM型FPGA电路单粒子敏感点分析模型第54-59页
        3.1.1 FPGA配置结构及设计第54-57页
        3.1.2 FPGA电路单粒子敏感性的传统分析指标第57-58页
        3.1.3 FPGA电路单粒子敏感点分析模型第58-59页
    3.2 基于网表解析的FPGA电路单粒子敏感点分析第59-71页
        3.2.1 基于网表解析的FPGA电路单粒子敏感点分析框架第59-62页
        3.2.2 配置存储器单粒子敏感点分析第62-67页
        3.2.3 互连线单粒子敏感点分析第67-70页
        3.2.4 算例分析第70-71页
    3.3 基于故障注入的测试验证第71-76页
        3.3.1 故障注入原理第71-73页
        3.3.2 故障注入系统设计第73-75页
        3.3.3 测试验证第75-76页
    3.4 本章小结第76-78页
第四章 FPGA电路功能模块耦合度分析第78-98页
    4.1 FPGA电路功能模块及耦合度第78-82页
        4.1.1 单粒子软错误传播特性第78-80页
        4.1.2 FPGA电路功能模块及耦合度第80-82页
    4.2 基于代码级的电路功能模块耦合度分析第82-89页
        4.2.1 分析方法第82-84页
        4.2.2 代码级自动化分析系统第84-87页
        4.2.3 算例分析第87-89页
    4.3 基于辐照实验的电路功能模块耦合度分析第89-97页
        4.3.1 实验目的及内容第89-91页
        4.3.2 实验系统及步骤第91-93页
        4.3.3 实验结果及误差分析第93-97页
    4.4 本章小结第97-98页
第五章 FPGA电路单粒子失效率估计第98-132页
    5.1 FPGA电路单粒子失效率估计模型第98-100页
        5.1.1 在轨单粒子翻转率第98-99页
        5.1.2 在轨单粒子失效率第99-100页
    5.2 FPGA电路单粒子失效率估计方法第100-114页
        5.2.1 FPGA电路单粒子失效率估计方法第100-103页
        5.2.2 基于元胞自动机的软错误传播与模拟第103-110页
        5.2.3 分析软件设计与实现第110-114页
    5.3 实验验证与误差分析第114-131页
        5.3.1 实验验证方法第114-115页
        5.3.2 典型分析对象第115-116页
        5.3.3 基于分析方法的估计第116-125页
        5.3.4 基于辐照实验的估计第125-130页
        5.3.5 两种结果对比分析第130-131页
    5.4 本章小结第131-132页
第六章 结论与展望第132-134页
    6.1 论文研究总结第132-133页
    6.2 后续工作展望第133-134页
致谢第134-136页
参考文献第136-148页
作者在学期间取得的学术成果第148-150页
作者在学期间参与的科研项目第150页

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