应用于TDC的高精度粗计数电路及误差校准电路设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状及发展趋势 | 第11-14页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第12-14页 |
| 1.3 本文主要研究内容和结构 | 第14-16页 |
| 1.3.1 本文创新点 | 第14页 |
| 1.3.2 本文的主要研究内容 | 第14-15页 |
| 1.3.3 本文的章节安排 | 第15-16页 |
| 第2章 时间间隔测量与自校准技术 | 第16-31页 |
| 2.1 时间间隔测量技术分类 | 第16-26页 |
| 2.1.1 计数器法 | 第16-17页 |
| 2.1.2 时间放大法 | 第17-18页 |
| 2.1.3 时间-幅值转换法 | 第18-19页 |
| 2.1.4 游标卡尺法 | 第19-20页 |
| 2.1.5 抽头延迟线法 | 第20-22页 |
| 2.1.6 数字差分延迟线法 | 第22-23页 |
| 2.1.7 基于时间内插技术测量法 | 第23-26页 |
| 2.2 自校准技术分类 | 第26-28页 |
| 2.2.1 双记录法 | 第26-27页 |
| 2.2.2 统计法 | 第27-28页 |
| 2.2.3 查找表法 | 第28页 |
| 2.3 测量系统主要设计参数 | 第28-29页 |
| 2.4 小结 | 第29-31页 |
| 第3章 TDC测量系统设计 | 第31-45页 |
| 3.1 FPGA的内部结构与开发流程简介 | 第31-39页 |
| 3.1.1 FPGA简介 | 第31页 |
| 3.1.2 FPGA内部结构介绍 | 第31-34页 |
| 3.1.3 FPGA设计流程分析 | 第34-35页 |
| 3.1.4 Vivado概述 | 第35-38页 |
| 3.1.5 MATLAB数据处理 | 第38-39页 |
| 3.2 测量时间间隔信号的实现方法 | 第39-40页 |
| 3.3 TDC测量系统中粗时间测量 | 第40-42页 |
| 3.3.1 粗时间测量时序分析 | 第40-41页 |
| 3.3.2 粗测量计数器编码设计 | 第41-42页 |
| 3.4 TDC测量系统中细时间测量 | 第42-44页 |
| 3.5 小结 | 第44-45页 |
| 第4章 误差校准电路设计 | 第45-50页 |
| 4.1 TDC测量系统固有误差来源分析 | 第45页 |
| 4.2 误差校准方案设计 | 第45-46页 |
| 4.3 随机数发生模块设计 | 第46-49页 |
| 4.4 小结 | 第49-50页 |
| 第5章 测试结果及分析 | 第50-61页 |
| 5.1 时间间隔信号测试原理 | 第50-51页 |
| 5.1.1 粗时间测试 | 第50页 |
| 5.1.2 细时间测试 | 第50-51页 |
| 5.1.3 校准后时间间隔测试 | 第51页 |
| 5.2 延迟链校准测试 | 第51-56页 |
| 5.2.1 伪随机序列仿真结果 | 第51-52页 |
| 5.2.2 随机信号仿真结果 | 第52页 |
| 5.2.3 随机信号测试结果 | 第52-54页 |
| 5.2.4 延迟链的测试结果与数据分析 | 第54-55页 |
| 5.2.5 延迟链位宽误差校准 | 第55-56页 |
| 5.3 单组脉冲信号测量 | 第56-58页 |
| 5.3.1 粗时间测量 | 第56-57页 |
| 5.3.2 细时间测量 | 第57-58页 |
| 5.3.3 时间间隔测量 | 第58页 |
| 5.4 多组脉冲信号测量 | 第58-59页 |
| 5.5 测量误差补偿 | 第59页 |
| 5.6 小结 | 第59-61页 |
| 第6章 总结与展望 | 第61-63页 |
| 6.1 总结 | 第61页 |
| 6.2 展望 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 附录：作者在读期间发表的学术论文及参加的科研项目 | 第68页 |
