| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 流水线ADC及其校正方法的研究现状 | 第10-11页 |
| 1.3 流水线ADC及其校正方法的发展方向 | 第11-12页 |
| 1.4 论文的结构安排 | 第12-14页 |
| 第二章 流水线型ADC理论和误差分析 | 第14-34页 |
| 2.1 ADC理论基础 | 第14-24页 |
| 2.1.1 采样原理 | 第14-15页 |
| 2.1.2 量化编码 | 第15-16页 |
| 2.1.3 ADC性能参数 | 第16-20页 |
| 2.1.4 ADC结构分类 | 第20-24页 |
| 2.2 流水线型ADC原理 | 第24-27页 |
| 2.2.1 流水线型ADC基本架构 | 第24-25页 |
| 2.2.2 输入采样保持电路 | 第25-26页 |
| 2.2.3 子区间转换电路 | 第26-27页 |
| 2.2.4 延时对准寄存器阵列 | 第27页 |
| 2.3 流水线型ADC中的非理想因素 | 第27-34页 |
| 2.3.1 级电路MDAC的电路实现 | 第27-28页 |
| 2.3.2 流水线型ADC实际电路的非理想因素 | 第28-34页 |
| 第三章 流水线型ADC的误差分析及校正理论 | 第34-42页 |
| 3.1 流水线型ADC的数学模型 | 第34-35页 |
| 3.1.1 理想单级MDAC的数学模型 | 第34页 |
| 3.1.2 理想流水线型ADC的数学模型 | 第34-35页 |
| 3.2 流水线型ADC的系统误差 | 第35-36页 |
| 3.3 流水线型ADC的误差校正 | 第36-41页 |
| 3.3.1 比较器失调产生的子DAC误差校准 | 第36-38页 |
| 3.3.2 级间放大器失调电压产生的误差校准 | 第38-39页 |
| 3.3.3 级间放大器增益误差的校正 | 第39页 |
| 3.3.4 子DAC误差的校正 | 第39-40页 |
| 3.3.5 级间放大器非线性的校正 | 第40-41页 |
| 3.4 无采保的流水线型ADC | 第41-42页 |
| 第四章 10位 500MSPS流水线型ADC的数字校正 | 第42-56页 |
| 4.1 10位 500MSPS流水线型ADC的架构 | 第42页 |
| 4.2 10位 500MSPS流水线型ADC的行为级建模验证 | 第42-46页 |
| 4.3 10位 500MSPS流水线型ADC的校正原理 | 第46-53页 |
| 4.3.1 首级MDAC的电容失配校正 | 第46-48页 |
| 4.3.2 各级MDAC的增益误差前台校正 | 第48-49页 |
| 4.3.3 各级MDAC增益的后台补偿 | 第49-52页 |
| 4.3.4 2.5 位MDAC的电容失配校正 | 第52-53页 |
| 4.4 10位 500MSPS流水线型ADC的校正算法实现 | 第53-54页 |
| 4.5 10位 500MSPS流水线型ADC的校正算法仿真 | 第54-56页 |
| 第五章 流水线型ADC数字校正系统的后端实现 | 第56-63页 |
| 5.1 电路综合 | 第56-57页 |
| 5.2 电路的形式验证 | 第57-58页 |
| 5.3 自动布局布线 | 第58-59页 |
| 5.4 电路的静态时序分析 | 第59-60页 |
| 5.5 电路的后仿真验证 | 第60-61页 |
| 5.6 模拟-数字电路混合仿真 | 第61-63页 |
| 第六章 结论 | 第63-64页 |
| 6.1 总结 | 第63页 |
| 6.2 展望 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第67-68页 |
