| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第1章 引言 | 第10-26页 |
| 1.1 中子散射应用 | 第10-13页 |
| 1.2 中子源 | 第13-19页 |
| 1.2.1 同位素中子源 | 第13-14页 |
| 1.2.2 反应堆中子源 | 第14-15页 |
| 1.2.3 散裂中子源 | 第15-18页 |
| 1.2.4 中子反射谱仪 | 第18-19页 |
| 1.3 中子探测方法 | 第19-23页 |
| 1.3.1 气体探测器 | 第20-21页 |
| 1.3.2 闪烁体探测器 | 第21-22页 |
| 1.3.3 半导体探测器 | 第22-23页 |
| 1.3.4 其它类型中子探测器 | 第23页 |
| 1.4 选题意义 | 第23-25页 |
| 1.5 论文结构 | 第25-26页 |
| 第2章 二维多丝室探测器的模拟优化研究 | 第26-48页 |
| 2.1 二维多丝室的基本结构 | 第26-28页 |
| 2.2 工作气体的模拟选择 | 第28-38页 |
| 2.2.1 中子转换气体的选择 | 第28-30页 |
| 2.2.2 阻止气体的选择 | 第30-38页 |
| 2.3 场强分布的模拟 | 第38-40页 |
| 2.4 气体增益的模拟 | 第40-44页 |
| 2.4.1 不同阳极丝直径的增益 | 第41-42页 |
| 2.4.2 不同阳极丝间距的增益 | 第42-43页 |
| 2.4.3 不同电极平面间距的增益 | 第43-44页 |
| 2.4.4 不同~3He与C_3H_8气体比例增益 | 第44页 |
| 2.5 感应信号的模拟 | 第44-46页 |
| 2.6 本章小结 | 第46-48页 |
| 第3章 探测器核心丝室结构的实验优化研究 | 第48-76页 |
| 3.1 读出方法的介绍 | 第48-51页 |
| 3.1.1 重心读出方法 | 第48-49页 |
| 3.1.2 数字读出方法 | 第49页 |
| 3.1.3 延迟线法 | 第49-50页 |
| 3.1.4 读出方法与丝结构的关系 | 第50-51页 |
| 3.2 核心丝室的性能测量 | 第51-65页 |
| 3.2.1 测量的核心丝室结构 | 第52-53页 |
| 3.2.2 电子学系统和数据获取系统介绍 | 第53-55页 |
| 3.2.3 坪曲线的测量 | 第55-56页 |
| 3.2.4 能量分辨的测量 | 第56-58页 |
| 3.2.5 位置分辨的测量 | 第58-65页 |
| 3.2.6 成像测量 | 第65页 |
| 3.3 阳极丝调制研究 | 第65-74页 |
| 3.3.1 阳极丝调制的实验设置 | 第67-68页 |
| 3.3.2 阳极丝调制的模拟 | 第68页 |
| 3.3.3 阳极丝调制的实验 | 第68-74页 |
| 3.4 本章小结 | 第74-76页 |
| 第4章 高气压二维多丝室中子探测器的研制 | 第76-106页 |
| 4.1 核心丝室的制作 | 第76-81页 |
| 4.1.1 核心丝室结构的设定 | 第77页 |
| 4.1.2 拉丝张力的确定 | 第77-79页 |
| 4.1.3 阳极丝板和上阴极丝板的制作 | 第79-81页 |
| 4.2 核心丝室的性能测试 | 第81-88页 |
| 4.2.1 计数率测试 | 第81-83页 |
| 4.2.2 位置分辨和成像测试 | 第83-85页 |
| 4.2.3 核心丝室的烘烤研究 | 第85-88页 |
| 4.3 高气压腔体及净化系统的研制 | 第88-95页 |
| 4.3.1 高气压腔体的研制 | 第88-91页 |
| 4.3.2 净化系统的研制 | 第91-95页 |
| 4.4 高气压腔体及净化系统的气密性测试 | 第95-99页 |
| 4.4.1 氦质谱仪检漏 | 第95-96页 |
| 4.4.2 抽真空测试 | 第96-97页 |
| 4.4.3 ~4He保压测试 | 第97-99页 |
| 4.5 探测器的整体组装及工作气体填充 | 第99-104页 |
| 4.5.1 漂移电极的制作 | 第99-100页 |
| 4.5.2 核心丝室与高气压腔体的组装 | 第100页 |
| 4.5.3 探测器运输 | 第100-101页 |
| 4.5.4 工作气体填充 | 第101-104页 |
| 4.6 本章小结 | 第104-106页 |
| 第5章 高气压二维多丝室探测系统的性能测试 | 第106-128页 |
| 5.1 读出电子学系统 | 第106-109页 |
| 5.1.1 读出电子学系统架构 | 第106-108页 |
| 5.1.2 读出电子学性能测试 | 第108-109页 |
| 5.2 数据获取系统 | 第109-113页 |
| 5.2.1 监控界面 | 第110-111页 |
| 5.2.2 数据流说明 | 第111页 |
| 5.2.3 数据格式说明 | 第111-113页 |
| 5.3 实验装置介绍 | 第113-118页 |
| 5.3.1 Am/Be中子源测试 | 第115-118页 |
| 5.4 中子束流测试 | 第118-124页 |
| 5.4.1 基线和飞行时间谱测量 | 第118-121页 |
| 5.4.2 计数坪区的测量 | 第121-122页 |
| 5.4.3 位置分辨的测量 | 第122-123页 |
| 5.4.4 成像测量 | 第123-124页 |
| 5.5 本章小结 | 第124-128页 |
| 第6章 总结与展望 | 第128-130页 |
| 参考文献 | 第130-142页 |
| 在学期间的研究成果 | 第142-144页 |
| 致谢 | 第144页 |