| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-13页 |
| 1.1. 课题背景 | 第9-10页 |
| 1.2. 国内外发展现状 | 第10-11页 |
| 1.3. 论文的研究内容和设计指标 | 第11-12页 |
| 1.4. 论文主要框架结构 | 第12-13页 |
| 第二章 同步整流零电流开关控制电路简介 | 第13-23页 |
| 2.1. 反激式同步整流开关电源的工作原理 | 第13-14页 |
| 2.1.1. 反激式二极管整流开关电源工作原理 | 第13页 |
| 2.1.2. 反激式同步整流开关电源工作原理 | 第13-14页 |
| 2.2. 同步整流的工作模式 | 第14-16页 |
| 2.2.1. DCM工作模式 | 第14-15页 |
| 2.2.2. CCM工作模式 | 第15-16页 |
| 2.3. 整流MOS开启电路的基本分类 | 第16-19页 |
| 2.3.1. 检测寄生二极管的导通产生开启驱动信号 | 第16-17页 |
| 2.3.2. 检测整流MOS管的漏源电压产生开启驱动信号 | 第17-19页 |
| 2.4. 整流MOS关断电路的基本分类 | 第19-22页 |
| 2.4.1. 检测整流MOS管的漏源电压产生关断驱动信号 | 第19页 |
| 2.4.2. 通过伏秒平衡产生关断驱动信号 | 第19-20页 |
| 2.4.3. 通过自适应的方式产生关断驱动信号 | 第20-22页 |
| 2.5. 本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 DCM同步整流芯片的零电流开关控制电路的分析与设计 | 第23-41页 |
| 3.1. 同步整流零电流开关控制电路的损耗分析 | 第23-25页 |
| 3.1.1. 同步整流开启死区损耗分析 | 第24页 |
| 3.1.2. 同步整流关断死区损耗分析 | 第24-25页 |
| 3.2. 零电流开启控制电路设计 | 第25-29页 |
| 3.2.1. 零阈值检测电路设计 | 第25-26页 |
| 3.2.2. 伏秒乘积电路设计 | 第26-27页 |
| 3.2.3. 斜率检测电路设计 | 第27-28页 |
| 3.2.4. 驱动电路设计 | 第28-29页 |
| 3.3. 零电流关断控制电路设计 | 第29-39页 |
| 3.3.1. 自适应电路设计 | 第30-35页 |
| 3.3.2. 零电流关断控制电路优化设计 | 第35-36页 |
| 3.3.3. 同步整流最小开启电路设计 | 第36-39页 |
| 3.4. 零电流开关控制电路效率优化分析 | 第39页 |
| 3.5. 本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 零电流开关控制电路的实现与仿真 | 第41-57页 |
| 4.1. 零电流开启控制电路的实现与仿真 | 第41-49页 |
| 4.1.1. 伏秒乘积电路的实现与仿真 | 第42-44页 |
| 4.1.2. 斜率检测电路的实现与仿真 | 第44-45页 |
| 4.1.3. 零阈值检测电路的实现与仿真 | 第45-48页 |
| 4.1.4. 驱动电路的实现与仿真 | 第48-49页 |
| 4.2. 零电流关断控制电路的实现与仿真 | 第49-54页 |
| 4.2.1. 自适应电路的实现与仿真 | 第50-52页 |
| 4.2.2. 关断比较器电路的实现与仿真 | 第52-53页 |
| 4.2.3. 最小开启电路的实现与仿真 | 第53-54页 |
| 4.3. 整体电路的仿真 | 第54-55页 |
| 4.4. 本章小结 | 第55-57页 |
| 第五章 版图设计与测试验证 | 第57-65页 |
| 5.1. 版图设计 | 第57-59页 |
| 5.1.1. 版图的可靠性设计 | 第57-59页 |
| 5.1.2. 整体版图设计 | 第59页 |
| 5.2. 测试系统介绍 | 第59-60页 |
| 5.3. 系统测试波形 | 第60-62页 |
| 5.4. 采用带零电流开关控制的同步整流系统效率测试 | 第62-63页 |
| 5.5. 仿真与测试结果分析对比 | 第63页 |
| 5.6. 本章小结 | 第63-65页 |
| 第六章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 6.1. 总结 | 第65页 |
| 6.2. 展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 研究生期间发表的论文及成果 | 第73页 |
