首页--工业技术论文--一般工业技术论文--工程材料学论文--特种结构材料论文

绝缘体上锗(GOI)纳米带的制备及其应变机理研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
目录第7-9页
Contents第9-11页
第一章 绪论第11-28页
    1.1 应变Ge材料的研究意义第11-12页
    1.2 Ge材料的能带结构第12-15页
    1.3 应变Ge材料的制备方法及其进展第15-20页
    1.4 本论文的主要工作和结构安排第20-22页
    参考文献第22-28页
第二章 GOI纳米带的应变增强机理分析第28-40页
    2.1 应力与应变的关系第28-29页
    2.2 GOI纳米带有限元模型的建立第29-30页
    2.3 GOI纳米带的应变分布第30-31页
    2.4 GOI纳米带产生应变的机理第31-37页
    2.5 本章小结第37-38页
    参考文献第38-40页
第三章 GOI纳米带制备及提高其应变的方法第40-54页
    3.1 全息法制备GOI纳米带阵列的过程模拟第40-43页
    3.2 GOI纳米带的制备及提高其应变的方法第43-48页
    3.3 GOI纳米带制备实验结果分析第48-51页
    3.4 本章小结第51-52页
    参考文献第52-54页
第四章 尺寸及组分可调控的SGOI纳米带的制备及表征第54-71页
    4.1 尺寸及Ge组分可调控的SGOI纳米带的制备方法第54-58页
    4.2 SiGe/Ge纳米带的表征结果分析第58-66页
    4.3 Ge纳米带的应变机理分析第66-69页
    4.4 本章小结第69-70页
    参考文献第70-71页
第五章 总结与展望第71-73页
附录 硕士期间科研成果及获奖情况第73-75页
致谢第75页

论文共75页,点击 下载论文
上一篇:近岸水体钼的非保守性行为及其生物地球化学形成机制探讨
下一篇:裂殖酵母中Dnt1参与DNA损伤及修复的初步研究