半导体激光器驱动源及温度稳定系统
| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 半导体激光器的发光机理 | 第10-11页 |
| 1.3 当前国内外的进展状况 | 第11-13页 |
| 1.4 研究内容与目的 | 第13-14页 |
| 1.5 本文的主要工作及章节安排 | 第14-16页 |
| 第二章 驱动源设计与实现 | 第16-32页 |
| 2.1 半导体激光器的特性 | 第16-17页 |
| 2.2 LC96型半导体激光器驱动源系统设计 | 第17-22页 |
| 2.2.1 整体框架 | 第17页 |
| 2.2.2 MOSFET的SCS模型 | 第17-18页 |
| 2.2.3 负反馈的应用 | 第18-19页 |
| 2.2.4 驱动源原理及分析 | 第19-21页 |
| 2.2.5 驱动源软件设计 | 第21-22页 |
| 2.3 比例-积分-微分控制算法 | 第22-25页 |
| 2.3.1 控制系统的基本结构 | 第23页 |
| 2.3.2 PID算法的基本思想 | 第23页 |
| 2.3.3 PID算法分析 | 第23-24页 |
| 2.3.4 PID算法的实现及PID算法参数整定 | 第24-25页 |
| 2.4 LC96型半导体激光器驱动源保护措施 | 第25-27页 |
| 2.4.1 上电慢启动保护措施 | 第25-27页 |
| 2.4.2 软件过流保护措施 | 第27页 |
| 2.5 驱动源基本原件 | 第27-31页 |
| 2.5.1 运算放大器 | 第27-28页 |
| 2.5.2 系统供电电源 | 第28-29页 |
| 2.5.3 基准电压芯片 | 第29页 |
| 2.5.4 数模转化器 | 第29页 |
| 2.5.5 电流检测芯片及模数转换器 | 第29-30页 |
| 2.5.6 MOSFET及采样电阻的选取 | 第30-31页 |
| 2.6 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 温度稳定系统 | 第32-40页 |
| 3.1 温度稳定系统概括 | 第32-33页 |
| 3.2 珀尔帖制冷器(TEC)原理及结构 | 第33页 |
| 3.3 温度采集模块 | 第33-35页 |
| 3.3.1 NTC热敏电阻原理 | 第33-34页 |
| 3.3.2 温度测量方法 | 第34-35页 |
| 3.4 PID调整补偿电路及TEC热响应 | 第35-37页 |
| 3.4.1 TEC热响应 | 第35页 |
| 3.4.2 模拟PID电路 | 第35-36页 |
| 3.4.3 PID调整补偿电路 | 第36-37页 |
| 3.5 TEC驱动器 | 第37-39页 |
| 3.5.1 TEC驱动方式分析 | 第37-38页 |
| 3.5.2 TEC驱动芯片 | 第38-39页 |
| 3.6 本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 系统实现与性能测试分析 | 第40-46页 |
| 4.1 驱动源线性关系测试 | 第40-41页 |
| 4.2 PID参数整定测试 | 第41-43页 |
| 4.3 驱动源性能测试 | 第43-44页 |
| 4.4 温度稳定系统测试 | 第44-45页 |
| 4.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 结论 | 第46-48页 |
| 5.1 工作总结 | 第46-47页 |
| 5.2 下步工作展望 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-51页 |
| 致谢 | 第51页 |
