| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第11-18页 |
| 1.1 课题来源 | 第11页 |
| 1.2 研究的背景与意义 | 第11-13页 |
| 1.3 涡流检测技术的研究现状及发展趋势 | 第13-16页 |
| 1.3.1 涡流检测技术的发展概述 | 第13页 |
| 1.3.2 涡流检测探头结构优化设计的国内外现状及发展趋势 | 第13-15页 |
| 1.3.3 涂层厚度涡流检测的国内外现状及发展趋势 | 第15-16页 |
| 1.3.4 存在的问题 | 第16页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第16-17页 |
| 1.5 本文内容结构安排 | 第17-18页 |
| 第二章 涡流检测探头结构的优化设计 | 第18-39页 |
| 2.1 电涡流传感器的基本原理 | 第18-21页 |
| 2.1.1 基于变压器模型的等效电路 | 第19-20页 |
| 2.1.2 涡流检测的趋肤效应 | 第20-21页 |
| 2.2 电涡流传感器有限元建模 | 第21-26页 |
| 2.2.1 电涡流传感器有限元建模假设 | 第21-22页 |
| 2.2.2 电涡流传感器有限元模型建立 | 第22-25页 |
| 2.2.3 特征信号提取 | 第25-26页 |
| 2.3 电涡流传感器探头线圈几何尺寸优化 | 第26-32页 |
| 2.3.1 激励参数的定性分析 | 第26-27页 |
| 2.3.2 线圈几何尺寸的定量优化 | 第27-32页 |
| 2.4 电涡流传感器探头铁芯结构优化 | 第32-38页 |
| 2.4.1 不同磁芯结构磁场分布及感应电流密度对比 | 第32-35页 |
| 2.4.2 圆环型、E型、U型铁芯之间的对比 | 第35-36页 |
| 2.4.3 U型铁芯尺寸参数分析 | 第36-38页 |
| 2.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第三章 基体上单涂层厚度检测方法研究 | 第39-57页 |
| 3.1 多层导电结构涡流检测基本原理 | 第39-42页 |
| 3.1.1 多层导电结构涡流检测的解析模型 | 第39-41页 |
| 3.1.2 多频多参数理论 | 第41-42页 |
| 3.2 单涂层电导率和厚度的变化对检测的影响 | 第42-44页 |
| 3.2.1 基体上单涂层厚度检测模型参数 | 第42页 |
| 3.2.2 电导率和厚度变化对检测的影响 | 第42-44页 |
| 3.3 基于标定法的单涂层厚度检测 | 第44-45页 |
| 3.4 基于最小二乘法的单涂层厚度检测 | 第45-47页 |
| 3.5 基于斜率法的单涂层厚度检测 | 第47-50页 |
| 3.6 斜率法单涂层厚度检测的实验验证 | 第50-56页 |
| 3.6.1 实验平台的搭建 | 第50-53页 |
| 3.6.2 斜率法厚度检测实验验证 | 第53-56页 |
| 3.7 本章小结 | 第56-57页 |
| 第四章 基体上多涂层厚度检测方法研究 | 第57-87页 |
| 4.1 多涂层电导率和厚度变化对检测的影响 | 第57-62页 |
| 4.1.1 基体上两涂层厚度检测模型参数 | 第57-58页 |
| 4.1.2 各层厚度变化对其它层厚度检测的影响 | 第58-59页 |
| 4.1.3 各层电导率变化对厚度检测的影响分析 | 第59-61页 |
| 4.1.4 涂层厚度与电导率之间的综合影响 | 第61-62页 |
| 4.2 已知电导率下两涂层厚度检测方法研究 | 第62-75页 |
| 4.2.1 折线法两涂层厚度检测方法的提出 | 第63-64页 |
| 4.2.2 折线法反演原理及流程 | 第64-66页 |
| 4.2.3 反演误差分析及对比 | 第66-68页 |
| 4.2.4 折线法普适性研究 | 第68-71页 |
| 4.2.5 折线法反演精度的提高 | 第71-75页 |
| 4.3 未知电导率下两涂层厚度检测 | 第75-77页 |
| 4.4 三层以上涂层厚度检测的方法研究 | 第77-82页 |
| 4.4.1 基体上三涂层厚度检测方法 | 第77-80页 |
| 4.4.2 基体上四层涂层厚度检测方法 | 第80-82页 |
| 4.5 折线法多涂层厚度检测实验验证 | 第82-85页 |
| 4.6 本章小结 | 第85-87页 |
| 第五章 总结与展望 | 第87-89页 |
| 5.1 总结 | 第87-88页 |
| 5.2 展望 | 第88-89页 |
| 致谢 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-95页 |
