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真空紫外耦合高频超声对水中全氟辛基磺酸钾(PFOS)的脱氟研究

摘要第5-7页
Abstract第7-9页
第一章 绪论第13-45页
    1.1 全氟化合物(PFCs)的污染现状与毒性效应第13-18页
        1.1.1 PFCs 的污染现状第13-15页
        1.1.2 PFCs 主要类型及物化性质第15-16页
        1.1.3 PFCs 毒理效应第16-18页
    1.2 全氟化合物降解技术的研究现状与进展第18-26页
        1.2.1 生物降解第18-19页
        1.2.2 高级氧化第19-20页
        1.2.3 光化学降解第20-21页
        1.2.4 化学还原第21-22页
        1.2.5 超声波热解第22-23页
        1.2.6 电化学氧化第23-24页
        1.2.7 硫酸自由基氧化第24-25页
        1.2.8 耦合体系第25-26页
    1.3 全氟化合物降解技术研究存在的问题和发展方向第26-27页
        1.3.1 全氟化合物降解技术研究存在问题第26页
        1.3.2 全氟化合物降解技术研究的发展方向第26-27页
    1.4 (高频)超声波氧化技术的研究进展第27-32页
        1.4.1 超声波氧化机制第27-29页
        1.4.2 超声波氧化影响因素第29-32页
        1.4.3 超声波氧化技术存在的问题及发展方向第32页
    1.5 紫外光氧化技术的研究进展第32-38页
        1.5.1 紫外光氧化机制第33-34页
        1.5.2 紫外光氧化影响因素第34-37页
        1.5.3 紫外光氧化技术存在的问题及发展方向第37-38页
    1.6 光声耦合氧化技术的研究进展第38-42页
        1.6.1 光声耦合方式及作用机理第38-40页
        1.6.2 光声耦合氧化处理难降解有机物第40-42页
    1.7 研究目的与主要研究内容第42-45页
        1.7.1 研究目的第42-43页
        1.7.2 主要研究内容与构思第43-44页
        1.7.3 技术路线第44-45页
第二章 VUV 对水中 PFOS 超声脱氟的影响效果研究第45-59页
    2.1 前言第45-46页
    2.2 材料与方法第46-49页
        2.2.1 试剂与材料第46-47页
        2.2.2 实验方法第47-48页
        2.2.3 测定方法第48-49页
    2.3 结果与讨论第49-58页
        2.3.1 光声耦合体系的构建第49-52页
        2.3.2 VUV-US 对 PFOS 耦合脱氟的效果第52-58页
    2.4 本章小结第58-59页
第三章 VUV-US 体系对水中 PFOS 脱氟的条件优化与模型预测第59-75页
    3.1 前言第59-60页
    3.2 材料与方法第60页
        3.2.1 试剂与材料第60页
        3.2.3 实验与数据分析方法第60页
    3.3 结果与讨论第60-74页
        3.3.1 响应面法实验设计第60-61页
        3.3.2 响应面模型的建立第61-65页
        3.3.3 因素作用分析第65-67页
        3.3.4 调控策略分析第67-74页
    3.4 本章小结第74-75页
第四章 PFOS 在 VUV- US 的中间产物及光声协同机制第75-89页
    4.1 前言第75页
    4.2 材料与方法第75-77页
        4.2.1 试剂与材料第75-76页
        4.2.2 测定方法与数据处理第76-77页
    4.3 结果与讨论第77-87页
        4.3.1 中间产物测定第77-78页
        4.3.2 全氟羧酸类中间产物的定量分析第78-83页
        4.3.3 氟元素物料衡算第83-85页
        4.3.4 VUV 对 PFOS 超声脱氟的协同机制第85-87页
    4.4 本章小结第87-89页
第五章 PFOS 在 VUV-US 中脱氟行为的量子化学研究第89-108页
    5.1 前言第89-90页
    5.2 计算方法第90页
    5.3 结果与讨论第90-107页
        5.3.1 PFOS 及 PFCAs 的分子构型分析第90-96页
        5.3.2 PFOS 及 PFCAs 的前线电子密度第96-105页
        5.3.3 PFOS 及 PFCAs 的前线轨道能量第105-107页
    5.4 本章小结第107-108页
第六章 K_2S_2O_8对 PFOS 在 VUV-US 体系中脱氟影响研究第108-120页
    6.1 引言第108-110页
    6.2 材料与方法第110页
        6.2.1 试剂与材料第110页
        6.2.2 实验装置第110页
        6.2.3 测定方法与数据处理第110页
    6.3 结果与讨论第110-119页
        6.3.1 K_2S_2O_8与硫酸自由基对 PFOS 的氧化研究第110-112页
        6.3.2 不同 K_2S_2O_8投加量对 VUV-US 体系脱氟的影响第112-114页
        6.3.3 不同反应温度对 VUV-US 体系脱氟的影响第114-115页
        6.3.4 不同 PFOS 初始浓度对 VUV-US 体系脱氟的影响第115-116页
        6.3.5 K_2S_2O_8对 PFOS 在 VUV-US 体系中脱氟的影响机制第116-119页
    6.4 本章小结第119-120页
结论、创新点与展望第120-123页
    结论第120-121页
    创新点第121页
    展望第121-123页
参考文献第123-138页
攻读博士学位期间取得的研究成果第138-139页
致谢第139-140页
附件第140页

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