| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第10-12页 |
| 1.1.1 课题背景 | 第10页 |
| 1.1.2 研究目的和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.3 本文主要研究内容 | 第15-17页 |
| 第2章 实验材料与测试方法 | 第17-21页 |
| 2.1 实验原料与仪器 | 第17页 |
| 2.1.1 实验原料 | 第17页 |
| 2.1.2 实验仪器 | 第17页 |
| 2.2 结构表征方法 | 第17-19页 |
| 2.2.1 X 射线衍射测试(XRD) | 第17-18页 |
| 2.2.2 扫描电镜测试(SEM) | 第18页 |
| 2.2.3 EDAX 能谱测试 | 第18页 |
| 2.2.4 小角 X 射线散射测试(SAXS) | 第18页 |
| 2.2.5 热失重测试(TG) | 第18页 |
| 2.2.6 紫外-可见光谱测试(UV-Vis) | 第18-19页 |
| 2.3 性能测试方法 | 第19-20页 |
| 2.3.1 介电谱测试 | 第19页 |
| 2.3.2 耐电晕老化寿命测试 | 第19-20页 |
| 2.3.3 光激电流测试(PSD) | 第20页 |
| 2.3.4 交流击穿场强测试 | 第20页 |
| 2.4 本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 PI/TiO_2纳米复合薄膜的制备与结构表征 | 第21-34页 |
| 3.1 聚酰亚胺的合成原理 | 第21-22页 |
| 3.2 二氧化钛的结构与特性 | 第22-23页 |
| 3.3 PI/TiO_2纳米复合薄膜的制备 | 第23-24页 |
| 3.4 PI/TiO_2纳米复合薄膜的结构表征 | 第24-32页 |
| 3.4.1 SAXS 结构表征 | 第24-29页 |
| 3.4.2 XRD 结构表征 | 第29-30页 |
| 3.4.3 复合薄膜的断面形貌 | 第30页 |
| 3.4.4 复合薄膜的热稳定性 | 第30-31页 |
| 3.4.5 复合薄膜的紫外线吸收光谱 | 第31-32页 |
| 3.5 本章小结 | 第32-34页 |
| 第4章 PI/TiO_2纳米复合薄膜的极化特性 | 第34-41页 |
| 4.1 电介质极化的种类 | 第34-35页 |
| 4.2 PI/TiO_2纳米复合薄膜的介电常数频谱 | 第35-37页 |
| 4.3 PI/TiO_2纳米复合薄膜的电导率、损耗角正切值与极化特性 | 第37-40页 |
| 4.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第5章 PI/TiO_2纳米复合薄膜的介电性能 | 第41-51页 |
| 5.1 光激电流法测试陷阱能级 | 第41-42页 |
| 5.2 薄膜的交流击穿场强(短时击穿) | 第42-43页 |
| 5.3 薄膜的耐电晕寿命与老化机理分析(长时击穿) | 第43-48页 |
| 5.4 短时击穿、长时失效与复合薄膜结构的关系 | 第48-50页 |
| 5.5 本章小结 | 第50-51页 |
| 结论 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-57页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58页 |
