| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 1 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-13页 |
| 1.3 本文的主要工作 | 第13-14页 |
| 2 扩散模型的设定检验 | 第14-21页 |
| 2.1 零假设、备择假设以及广义残差序列的计算 | 第14-17页 |
| 2.1.1 零假设与备择假设 | 第14-15页 |
| 2.1.2 广义残差序列的计算 | 第15-17页 |
| 2.2 检验统计量的构造 | 第17-21页 |
| 2.2.1 Hong and Li检验法—非参数综合检验法 | 第17-19页 |
| 2.2.2 广义残差拟合优度检验 | 第19页 |
| 2.2.3 非参数Bootstrap方法在假设检验中的应用 | 第19-21页 |
| 3 典型一维扩散模型设定检验的模拟分析 | 第21-39页 |
| 3.1 几类典型的参数扩散模型 | 第21-32页 |
| 3.1.1 Vasicek模型 | 第21-24页 |
| 3.1.2 CIR模型 | 第24-27页 |
| 3.1.3 CKLS模型 | 第27-32页 |
| 3.2 零假设下检验统计量分布的研究 | 第32-34页 |
| 3.3 广义残差拟合优度检验法的有限样本性质的模拟分析 | 第34-39页 |
| 3.3.1 检验的水平 | 第34-36页 |
| 3.3.2 检验的功效 | 第36-39页 |
| 4 实证分析 | 第39-45页 |
| 4.1 数据的选取 | 第39-40页 |
| 4.2 模型检验的结果分析 | 第40-43页 |
| 4.3 本章小结 | 第43-45页 |
| 5 结论 | 第45-46页 |
| 致谢 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-49页 |
