| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-21页 |
| 1.1 X射线成像 | 第11-12页 |
| 1.2 X射线相位衬度成像 | 第12-16页 |
| 1.3 X射线光栅相位衬度成像 | 第16-18页 |
| 1.4 几何投影式相衬成像以及光栅需求 | 第18-19页 |
| 1.5 本论文研究内容及研究方法 | 第19-21页 |
| 第2章 高衬度低剂量X射线光栅相位衬度成像系统 | 第21-33页 |
| 2.1 国家同步辐射实验室X射线光栅相位衬度成像装置 | 第21-23页 |
| 2.2 X射线光栅相位衬度成像装置控制系统 | 第23-26页 |
| 2.3 X射线光栅相位衬度成像装置图像处理平台 | 第26-28页 |
| 2.4 数据采集及步进扫描程序优化 | 第28-33页 |
| 第3章 X射线光栅相位衬度成像元器件光栅的研制 | 第33-45页 |
| 3.1 相衬成像光栅的研究背景 | 第33-35页 |
| 3.2 X射线相位衬度成像光栅制造工艺 | 第35-38页 |
| 3.3 光栅加工难题和改善方法的研究 | 第38-40页 |
| 3.3.1 导致光栅缺陷的成因分析 | 第38页 |
| 3.3.2 防止光栅结构损坏的解决方法探究 | 第38-40页 |
| 3.4 光栅结构辅助分析 | 第40-42页 |
| 3.5 光栅加工结果 | 第42-45页 |
| 第4章 光栅加工缺陷在成像系统中的检测 | 第45-57页 |
| 4.1 光栅缺陷的成像信息 | 第45-47页 |
| 4.2 光栅缺陷的实验检测 | 第47-51页 |
| 4.3 条纹成因分析 | 第51-53页 |
| 4.4 光栅的质量检测 | 第53-54页 |
| 4.5 一种无损检测方法 | 第54-57页 |
| 第5章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 在读期间发表的学术论文或取得的其他研究成果 | 第67页 |