| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 研究背景 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 PCM相关研究 | 第12-15页 |
| 1.2.2 模拟器相关研究 | 第15-16页 |
| 1.3 本文研究 | 第16-17页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第17-18页 |
| 第2章 相关技术基础 | 第18-29页 |
| 2.1 PCM原理及特性 | 第18-20页 |
| 2.1.1 PCM基本原理 | 第18-19页 |
| 2.1.2 DRAM和PCM比较分析 | 第19-20页 |
| 2.2 DRAMSim2模拟器概述 | 第20-24页 |
| 2.2.1 DRAMSim2基本框架 | 第20-22页 |
| 2.2.2 DRAMSim中延时参数 | 第22-24页 |
| 2.2.3 DRAMSim仿真流程 | 第24页 |
| 2.3 PCM磨损均衡算法 | 第24-28页 |
| 2.3.1 Start-Gap算法 | 第24-26页 |
| 2.3.2 Security-Refresh算法 | 第26-28页 |
| 2.4 小结 | 第28-29页 |
| 第3章 PCM建模和模拟器设计 | 第29-40页 |
| 3.1 PCM模型 | 第29-30页 |
| 3.2 PCM模拟器设计思路 | 第30-31页 |
| 3.3 PCM模拟器架构 | 第31-33页 |
| 3.4 PCM模拟器整体概述 | 第33-37页 |
| 3.5 PCM模拟器仿真流程 | 第37-39页 |
| 3.6 小结 | 第39-40页 |
| 第4章 PCM模拟器的实现 | 第40-57页 |
| 4.1 配置信息更改 | 第40-41页 |
| 4.2 取消刷新机制 | 第41-42页 |
| 4.3 改写回写过程 | 第42-44页 |
| 4.4 集成常用的磨损均衡算法 | 第44-47页 |
| 4.4.1 集成Start-Gap算法 | 第45-46页 |
| 4.4.2 集成Security-refresh算法 | 第46-47页 |
| 4.5 集成寿命模型 | 第47-51页 |
| 4.6 类和方法定义 | 第51-56页 |
| 4.6.1 重要方法介绍 | 第51页 |
| 4.6.2 主要类定义 | 第51-56页 |
| 4.7 小结 | 第56-57页 |
| 第5章 测试与分析 | 第57-65页 |
| 5.1 测试环境和方法介绍 | 第57-58页 |
| 5.1.1 测试环境 | 第57-58页 |
| 5.1.2 测试方法 | 第58页 |
| 5.2 实验结果与分析 | 第58-64页 |
| 5.2.1 延时 | 第59-62页 |
| 5.2.2 寿命 | 第62-64页 |
| 5.3 小结 | 第64-65页 |
| 结论 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文 | 第73-74页 |
| 附录B 攻读学位期间参加的科研项目 | 第74页 |