| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-14页 |
| 1.1 图像传感器概述 | 第9-10页 |
| 1.2 课题意义 | 第10-11页 |
| 1.3 CMOS图像传感器发展趋势及国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.4 课题研究的内容 | 第13页 |
| 1.5 本章小结 | 第13-14页 |
| 第2章 光子传输原理及CMOS图像传感器噪声 | 第14-33页 |
| 2.1 图像传感器测试标准概述 | 第14-23页 |
| 2.1.1 光子传输原理 | 第15-17页 |
| 2.1.2 噪声等效模型 | 第17-20页 |
| 2.1.3 EMVA 1288 测试标准 | 第20-23页 |
| 2.2 图像传感器噪声分析 | 第23-27页 |
| 2.2.1 光子散射噪声 | 第23-24页 |
| 2.2.2 信号散粒噪声 | 第24-25页 |
| 2.2.3 暗电流 | 第25页 |
| 2.2.4 固定模式噪声 | 第25-27页 |
| 2.3 基于非线性响应的固定模式噪声校正 | 第27-32页 |
| 2.3.1 平场校正方法 | 第28页 |
| 2.3.2 基于非线性响应的FPN校正算法 | 第28-32页 |
| 2.4 本章小结 | 第32-33页 |
| 第3章 图像传感器测试系统 | 第33-42页 |
| 3.1 测试系统总体结构 | 第33-34页 |
| 3.2 光源 | 第34-35页 |
| 3.3 滤光装置 | 第35-36页 |
| 3.4 积分球装置 | 第36-39页 |
| 3.5 暗室 | 第39-40页 |
| 3.6 数据采集电路板 | 第40页 |
| 3.7 上位机 | 第40-41页 |
| 3.8 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 噪声的测试流程 | 第42-52页 |
| 4.1 基于非线性响应的FPN噪声平场校正 | 第42-43页 |
| 4.2 散弹噪声测试 | 第43-45页 |
| 4.2.1 明场方差 | 第44页 |
| 4.2.2 暗场方差 | 第44-45页 |
| 4.2.3 散弹噪声测试流程 | 第45页 |
| 4.3 平均暗电流测试流程 | 第45-46页 |
| 4.4 软件设计 | 第46-51页 |
| 4.4.1 图像数据采集软件 | 第46-48页 |
| 4.4.2 散弹噪声测试软件 | 第48-49页 |
| 4.4.3 平场校正软件 | 第49-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第5章 测试结果与分析 | 第52-70页 |
| 5.1 明场散弹噪声测试结果 | 第52-54页 |
| 5.2 平均暗电流测试结果 | 第54-55页 |
| 5.3 暗场散弹噪声测试结果 | 第55-57页 |
| 5.4 基于非线性响应的FPN校正结果 | 第57-69页 |
| 5.4.1 测试图片的映射比较 | 第57-63页 |
| 5.4.2 对任意均匀图像平场校正 | 第63-67页 |
| 5.4.3 对景物平场校正 | 第67-69页 |
| 5.5 本章小结 | 第69-70页 |
| 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
| 附录A | 第77-78页 |