| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-13页 |
| 1.2.1 环氧树脂纳米复合材料介电性与分散性的关系 | 第10-12页 |
| 1.2.2 纳米粒子在基体中分散性的定量评价 | 第12-13页 |
| 1.3 课题的来源及研究内容 | 第13-14页 |
| 1.3.1 课题来源 | 第13页 |
| 1.3.2 课题的主要研究内容 | 第13-14页 |
| 第2章 纳米SiO_2/环氧树脂复合材料的制备 | 第14-18页 |
| 2.1 使用的原料和设备 | 第14-15页 |
| 2.2 试样的制备工艺 | 第15-17页 |
| 2.2.1 超声波分散法 | 第15-16页 |
| 2.2.2 溶胶-凝胶法 | 第16-17页 |
| 2.2.3 高速搅拌法 | 第17页 |
| 2.3 本章小结 | 第17-18页 |
| 第3章 纳米SiO_2粒子在环氧树脂复合材料中分散性的定量表征 | 第18-26页 |
| 3.1 概述 | 第18页 |
| 3.2 样方法 | 第18-20页 |
| 3.2.1 森下氏指数 | 第19页 |
| 3.2.2 偏度值理论 | 第19-20页 |
| 3.3 最小邻域距理论 | 第20-21页 |
| 3.4 定量表征结果 | 第21-25页 |
| 3.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第4章 纳米二氧化硅/环氧树脂复合材料的介电谱特性研究 | 第26-35页 |
| 4.1 概述 | 第26-27页 |
| 4.1.1 相对介电常数 | 第26页 |
| 4.1.2 损耗角正切 | 第26-27页 |
| 4.2 试样的处理及试验装置 | 第27页 |
| 4.3 相对介电常数和损耗角正切的频率谱 | 第27-34页 |
| 4.3.1 相对介电常数和损耗角正切的频率谱 | 第27-31页 |
| 4.3.2 损耗角正切的频率谱分析 | 第31-34页 |
| 4.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第5章 纳米SiO_2/环氧树脂复合材料的耐电晕特性 | 第35-39页 |
| 5.1 试样的处理和试验装置 | 第35-36页 |
| 5.1.1 耐电晕试验的原理及步骤 | 第35-36页 |
| 5.1.2 测试粗糙度参数 | 第36页 |
| 5.2 实验结果与分析 | 第36-37页 |
| 5.3 本章小结 | 第37-39页 |
| 第6章 纳米SiO_2/环氧树脂复合材料的击穿特性研究 | 第39-44页 |
| 6.1 试样的处理和试验装置 | 第39页 |
| 6.2 结果分析 | 第39-43页 |
| 6.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 结论 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-50页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的学术论文 | 第50-51页 |
| 致谢 | 第51页 |
