摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4页 |
第一章 绪论 | 第8-17页 |
1.1 过程层析成像技术简介 | 第9页 |
1.2 电学层析成像技术的发展 | 第9-11页 |
1.3 截面检测技术的研究方向及难点 | 第11-13页 |
1.4 CompactPCI 总线和 FPGA 技术简介 | 第13-15页 |
1.4.1 Compact PCI 总线简介 | 第13-14页 |
1.4.2 FPGA 技术简介 | 第14-15页 |
1.5 课题来源及主要研究内容 | 第15页 |
1.6 本论文组织安排 | 第15-17页 |
第二章 截面数据采集系统中的数字信号处理 | 第17-25页 |
2.1 数字滤波技术 | 第17-23页 |
2.1.1 数字滤波器原理与分类 | 第18页 |
2.1.2 FIR 数字滤波器 | 第18-20页 |
2.1.3 FIR 数字滤波器窗函数设计方法及实现 | 第20-23页 |
2.2 数字解调算法 | 第23页 |
2.3 数字信号处理性能分析 | 第23-25页 |
第三章 截面数据采集系统功能模块设计 | 第25-43页 |
3.1 截面数据采集系统模块化结构 | 第25-26页 |
3.2 信号发生及模式选择模块设计 | 第26-36页 |
3.2.1 CompactPCI 总线及接口模块设计 | 第27-30页 |
3.2.2 FPGA 最小系统设计 | 第30-32页 |
3.2.3 信号发生模块 | 第32-34页 |
3.2.4 压控电流源(VCCS)模块 | 第34-35页 |
3.2.5 电极选通模块 | 第35-36页 |
3.3 信号调理模块设计 | 第36-40页 |
3.3.1 电极驱动模块 | 第37页 |
3.3.2 截面选择模块 | 第37-38页 |
3.3.3 差分放大模块 | 第38-40页 |
3.4 AD 采集模块 | 第40-41页 |
3.5 模块化设计总结 | 第41-43页 |
第四章 系统模块控制程序设计 | 第43-49页 |
4.1 基于 FPGA 状态机的 CompactPCI 接口芯片控制程序设计 | 第43-45页 |
4.1.1 状态机简介 | 第43-44页 |
4.1.2 接口芯片控制状态机分配 | 第44-45页 |
4.2 DDS 芯片控制程序设计 | 第45-46页 |
4.3 AD 转换芯片控制程序设计 | 第46-49页 |
第五章 系统功能模块的测试与评估 | 第49-56页 |
5.1 正弦激励电流源性能调试 | 第49-51页 |
5.2 系统采集速度计算 | 第51-52页 |
5.3 采样时间和数字信号处理时间对系统性能影响 | 第52页 |
5.4 调试工作总结及建议 | 第52-56页 |
5.4.1 调试测试点的选取 | 第53页 |
5.4.2 模块化调试方法 | 第53-54页 |
5.4.3 模拟地与数字地的处理 | 第54-56页 |
第六章 总结与展望 | 第56-58页 |
参考文献 | 第58-63页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第63-64页 |
致谢 | 第64页 |