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0.18um 10万门FPGA通用可编程互连设计与测试

摘要第3-4页
Abstract第4页
目录第5-7页
第1章 引言第7-11页
    1.1 FPGA概述第7-9页
    1.2 FPGA结构研究第9页
    1.3 工作重点第9页
    1.4 论文组织第9-11页
第2章 FPGA结构及应用设计流程第11-26页
    2.1 FPGA体系结构第11-23页
        2.1.1 可编程逻辑资源结构描述第12-15页
        2.1.2 可编程互连资源结构描述第15-23页
    2.2 FPGA实现数字系统的CAD设计流程第23-26页
第3章 FPGA-2可编程逻辑资源设计第26-33页
    3.1 FPGA-2可编程逻辑单元架构第26-27页
    3.2 FPGA-2中SLICE以及CLB的功能介绍第27-33页
        3.2.1 组合逻辑功能第28-29页
        3.2.2 加法、乘法和进位链逻辑功能第29-31页
        3.2.3 时序逻辑功能第31-33页
第4章 FPGA-2通用可编程互连资源设计第33-46页
    4.1 FPGA-2层次式互连资源概述第33-35页
        4.1.1 Tile内部局域互连第33-34页
        4.1.2 全局通用分段式互连第34-35页
    4.2 FPGA-2层次式互连设计的划分第35页
    4.3 Core互连设计第35-41页
        4.3.1 信号交换平面设计第38-39页
        4.3.2 互连平面设计第39-41页
    4.4 IP互连设计第41-44页
    4.5 时钟网络专用互连设计第44-46页
第5章 FPGA-2I/O互连结构及电路优化设计第46-60页
    5.1 可编程输入输出模块IOB第46-47页
    5.2 I/O互连资源介绍第47-48页
    5.3 I/O互连结构优化设计第48-51页
    5.4 I/O互连电路优化设计第51-56页
        5.4.1 PIP优化设计第53页
        5.4.2 MUX优化设计第53-55页
        5.4.3 Buffer优化设计第55-56页
    5.5 I/O互连电路仿真结果第56-60页
        5.5.1 Single-Long仿真结果第57页
        5.5.2 Long-Hex仿真结果第57-58页
        5.5.3 I/O环仿真结果第58-60页
第6章 FPGA-2版图设计与芯片测试第60-70页
    6.1 FPGA-2芯片版图设计第60-61页
    6.2 FPGA-2芯片测试平台及测试流程第61-63页
    6.3 FPGA-2互连资源测试结果第63-66页
        6.3.1 互连结构测试第63-66页
        6.3.2 互连参数测试第66页
    6.4 FPGA-2芯片其他逻辑资源测试第66-68页
    6.5 FPGA-2芯片用户电路测试实例第68-70页
第7章 总结与展望第70-73页
    7.1 工作总结第70-71页
    7.2 工作展望第71-73页
参考文献第73-76页
致谢第76-77页

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