| 目录 | 第2-4页 |
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 导论 | 第7-17页 |
| 1.1 嵌入式存储器介绍 | 第7-10页 |
| 1.1.1 挥发存储器 | 第7-8页 |
| 1.1.2 非挥发存储器 | 第8-10页 |
| 1.2 选题的背景 | 第10-14页 |
| 1.2.1 SRAM关键参数波动测试方法的研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2.2 FPGA的概述 | 第11-14页 |
| 1.2.3 RRAM应用在FPGA中的研究背景 | 第14页 |
| 1.3 论文的主要工作和技术要点 | 第14-15页 |
| 1.4 论文结构和章节安排 | 第15-17页 |
| 第二章 基于SRAM存储结点引出的测试结构设计及研究 | 第17-32页 |
| 2.1 SRAM读写静态指标的定义 | 第17-20页 |
| 2.2 基于SRAM存储结点引出的测试结构设计及研究 | 第20-23页 |
| 2.2.1 传统的测试方案 | 第20-21页 |
| 2.2.2 新测试方案的提出 | 第21-22页 |
| 2.2.3 测试结构的基本组成 | 第22-23页 |
| 2.3 测试过程及数据分析 | 第23-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 不引出存储结点大阵列SRAM读写指标测试 | 第32-54页 |
| 3.1 大阵列SRAM读写指标的表征方式 | 第32-37页 |
| 3.1.1 SRAM读写指标新表征方式的引出 | 第32-34页 |
| 3.1.2 SRAM读指标新表征方式的定义 | 第34-36页 |
| 3.1.3 SRAM写指标新表征方式的定义 | 第36-37页 |
| 3.2 不引出存储结点的大阵列SRAM读写指标测试 | 第37-50页 |
| 3.2.1 测试电路设计的具体实现 | 第37-45页 |
| 3.2.2 主要子模块的仿真 | 第45-48页 |
| 3.2.3 SRAM读写指标测试结构的仿真 | 第48-50页 |
| 3.3 大阵列SRAM读写指标测试结构的测试流程 | 第50-53页 |
| 3.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 RRAM配置FPGA内挥发存储器 | 第54-62页 |
| 4.1 双芯片中RRAM和FPGA通信方式 | 第54-56页 |
| 4.2 单芯片中RRAM和FPGA通信方式 | 第56-61页 |
| 4.2.1 新型存储器RRAM和挥发存储器SRAM通信方式的提出 | 第56-59页 |
| 4.2.2 新型存储器RRAM和挥发存储器SRAM通信方式工作流程 | 第59-61页 |
| 4.2.3 新型存储器RRAM和外界的通信 | 第61页 |
| 4.3 本章小结 | 第61-62页 |
| 第五章 RRAM成为FPGA的编程结点 | 第62-71页 |
| 5.1 RRAM-based 2x2可编程逻辑模块 | 第63-64页 |
| 5.2 RRAM-based布线资源的编程算法研究 | 第64-67页 |
| 5.3 RRAM-based 2x2可编程逻辑模块不同逻辑功能实现 | 第67-70页 |
| 5.4 本章小结 | 第70-71页 |
| 第六章 总结与展望 | 第71-73页 |
| 6.1 工作总结 | 第71-72页 |
| 6.2 设想和展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-75页 |
| 论文发表与专利情况 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76-77页 |
