| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.1.1 课题研究背景 | 第10-11页 |
| 1.1.2 课题的研究意义 | 第11页 |
| 1.2 固态纳秒脉冲发生器国内外研究现状 | 第11-16页 |
| 1.3 脉冲驱动的APNP- Js研究现状 | 第16-18页 |
| 1.4 论文的主要工作 | 第18-20页 |
| 2 全固态纳秒脉冲发生器的基本原理及仿真分析 | 第20-32页 |
| 2.1 引言 | 第20页 |
| 2.2 Marx电路工作原理和数学分析 | 第20-24页 |
| 2.2.1 全固态Marx电路的工作原理 | 第20-21页 |
| 2.2.2 带有尾切开关的全固态Marx发生器的工作原理 | 第21-23页 |
| 2.2.3 固态Marx电路的数学分析 | 第23-24页 |
| 2.3 固态Marx电路的PSPICE仿真 | 第24-31页 |
| 2.3.1 固态开关的建模与仿真 | 第25-26页 |
| 2.3.2 尾切开关工作对输出特性的影响 | 第26-29页 |
| 2.3.3 Marx电路中杂散参数对输出特性的影响分析 | 第29-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 3 全固态快边沿纳秒脉冲发生器的设计 | 第32-50页 |
| 3.1 引言 | 第32页 |
| 3.2 固态Marx电路参数计算 | 第32-36页 |
| 3.2.1 直流电源的选择 | 第33-34页 |
| 3.2.2 固态开关的选择 | 第34-35页 |
| 3.2.3 储能电容的选择 | 第35页 |
| 3.2.4 快恢复隔离二极管的选择 | 第35-36页 |
| 3.3 MOSFET驱动电路 | 第36-40页 |
| 3.3.1 米勒效应的抑制 | 第36-37页 |
| 3.3.2 MOSFET驱动电路计算 | 第37-38页 |
| 3.3.3 MOSFET驱动电路设计 | 第38-40页 |
| 3.4 纳秒脉冲发生器控制电路设计 | 第40-46页 |
| 3.4.1 控制电路工作基本原理 | 第40-42页 |
| 3.4.2 触发控制电路设计 | 第42-44页 |
| 3.4.3 保护电路设计 | 第44-46页 |
| 3.5 纳秒脉冲发生器电磁兼容 | 第46-48页 |
| 3.5.1 电路优化设计 | 第46-47页 |
| 3.5.2 电磁屏蔽设计 | 第47-48页 |
| 3.6 本章小结 | 第48-50页 |
| 4 全固态快边沿纳秒脉冲发生器的性能测试 | 第50-60页 |
| 4.1 引言 | 第50页 |
| 4.2 全固态快边沿纳秒脉冲发生器性能测试 | 第50-58页 |
| 4.2.1 测试系统平台介绍 | 第50-51页 |
| 4.2.2 触发控制板输出波形测试 | 第51-53页 |
| 4.2.3 单板输出波形测试 | 第53-54页 |
| 4.2.4 电阻性负载下发生器装置输出波形测试 | 第54-57页 |
| 4.2.5 尾切开关动作对输出波形的影响 | 第57-58页 |
| 4.3 全固态快边沿纳秒脉冲发生器系统效率计算 | 第58-59页 |
| 4.4 本章小结 | 第59-60页 |
| 5 纳秒脉冲驱动等离子体射流实验初探 | 第60-68页 |
| 5.1 引言 | 第60页 |
| 5.2 纳秒脉冲驱动等离子体射流的产生 | 第60-64页 |
| 5.2.1 纳秒脉冲等离子体射流实验平台 | 第60-62页 |
| 5.2.2 等离子体射流放电的电学特性 | 第62-64页 |
| 5.3 纳秒脉冲驱动等离子体射流长度的影响因素分析 | 第64-67页 |
| 5.3.1 脉冲电压幅值对等离子体射流长度的影响 | 第64-65页 |
| 5.3.2 脉冲宽度对等离子体射流长度的影响 | 第65页 |
| 5.3.3 重复频率对等离子体射流长度的影响 | 第65-66页 |
| 5.3.4 气体流速对等离子体射流长度的影响 | 第66-67页 |
| 5.4 本章小结 | 第67-68页 |
| 6 结论与展望 | 第68-72页 |
| 6.1 结论 | 第68-69页 |
| 6.2 展望 | 第69-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-80页 |
| 附录 | 第80页 |
| A. 作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第80页 |
| B. 作者在攻读学位期间参与的科研项目 | 第80页 |
