| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-23页 |
| 1.1 课题研究的背景和意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-20页 |
| 1.2.1 冲击电压下针对高Kerr常数液体的Kerr电光场图测量方法 | 第11-12页 |
| 1.2.2 冲击电压下针对低Kerr常数液体的Kerr电光场图测量方法 | 第12-14页 |
| 1.2.3 直流电压下针对低Kerr常数液体的Kerr电光场图测量方法 | 第14-17页 |
| 1.2.4 电声脉冲法 | 第17-18页 |
| 1.2.5 纳米改性液体电介质的冲击耐压特性和改性机理研究 | 第18-19页 |
| 1.2.6 现阶段存在的问题 | 第19-20页 |
| 1.3 本文研究内容 | 第20-23页 |
| 2 KERR电光场图测量方法原理及试验装置 | 第23-37页 |
| 2.1 概述 | 第23页 |
| 2.2 KERR电光场图测量试验原理 | 第23-29页 |
| 2.2.1 Kerr效应的基本原理 | 第23页 |
| 2.2.2 Kerr效应和Jones矩阵在电光场图测量中的应用 | 第23-29页 |
| 2.3 试验装置 | 第29-35页 |
| 2.3.1 高压电路系统 | 第29-30页 |
| 2.3.2 光路系统 | 第30-34页 |
| 2.3.3 光电接收装置 | 第34-35页 |
| 2.4 本章小结 | 第35-37页 |
| 3 冲击电压下液体电介质KERR电光场图测量方法的改进 | 第37-57页 |
| 3.1 概述 | 第37页 |
| 3.2 基于CCD的KERR电光场图测量方法研究 | 第37-42页 |
| 3.3 基于阵列光电探测器的连续KERR电光场图测量方法研究 | 第42-52页 |
| 3.3.1 试验方法 | 第43-44页 |
| 3.3.2 图像处理技术 | 第44-46页 |
| 3.3.3 测量结果分析讨论 | 第46-52页 |
| 3.4 阵列光电探测器与CCD测量结果对比分析 | 第52-54页 |
| 3.5 本章小结 | 第54-57页 |
| 4 冲击电压下铁磁性纳米粒子的添加对碳酸丙烯酯放电过程中空间电荷时空特性分布的影响 | 第57-71页 |
| 4.1 概述 | 第57页 |
| 4.2 纳米改性碳酸丙烯酯的配备 | 第57-59页 |
| 4.3 碳酸丙烯酯纳米改性前后的击穿特性 | 第59-60页 |
| 4.4 碳酸丙烯酯纳米改性前后的电场与空间电荷分布规律 | 第60-67页 |
| 4.4.1 纳米改性前后的电场分布 | 第60-64页 |
| 4.4.2 纳米改性前后空间电荷随时间和空间的分布情况 | 第64-67页 |
| 4.5 铁磁性纳米粒子对空间电荷分布的影响机理讨论 | 第67-68页 |
| 4.6 本章小结 | 第68-71页 |
| 5 结论和展望 | 第71-73页 |
| 5.1 结论 | 第71-72页 |
| 5.2 展望 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-81页 |
| 附录 | 第81页 |
| A 作者在攻读硕士学位期间发表论文 | 第81页 |
| B 作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第81页 |
