MgO单晶点缺陷的X射线漫散射研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 引言 | 第8页 |
| 1.2 点缺陷的实验研究方法 | 第8-11页 |
| 1.2.1 X射线漫散射 | 第8-10页 |
| 1.2.2 光致发光 | 第10页 |
| 1.2.3 正电子湮没 | 第10-11页 |
| 1.3 本论文研究意义 | 第11-12页 |
| 1.4 本论文研究内容 | 第12-13页 |
| 2 晶体中的点缺陷 | 第13-25页 |
| 2.1 引言 | 第13页 |
| 2.2 点缺陷简介 | 第13-16页 |
| 2.2.1 点缺陷的名称 | 第13-14页 |
| 2.2.2 点缺陷的类型 | 第14-16页 |
| 2.3 晶体点缺陷物理 | 第16-21页 |
| 2.3.1 点缺陷的几何组态 | 第16-20页 |
| 2.3.2 点缺陷对晶体性能的影响 | 第20-21页 |
| 2.4 氧化物MO中的点缺陷 | 第21-23页 |
| 2.4.1 MgO晶体结构 | 第21页 |
| 2.4.2 氧化物中点缺陷类型 | 第21-23页 |
| 2.5 MgO中点缺陷的研究进展 | 第23-25页 |
| 3 黄昆漫散射 | 第25-44页 |
| 3.1 引言 | 第25页 |
| 3.2 黄昆漫散射理论的发展 | 第25-26页 |
| 3.3 黄昆漫散射强度公式推导 | 第26-30页 |
| 3.4 黄昆漫散射实验 | 第30-34页 |
| 3.4.1 黄昆漫散射实验进展 | 第30-32页 |
| 3.4.2 黄昆漫散射实验方法 | 第32-34页 |
| 3.5 黄昆漫散射等强度面计算 | 第34-38页 |
| 3.6 实验测量与结果 | 第38-44页 |
| 4 结论与展望 | 第44-45页 |
| 4.1 结论 | 第44页 |
| 4.2 展望 | 第44-45页 |
| 致谢 | 第45-46页 |
| 参考文献 | 第46-50页 |
