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温度循环载荷条件下电子设备多失效模式加速试验技术研究

摘要第10-13页
Abstract第13-15页
第一章 绪论第16-32页
    1.1 研究背景与意义第16-17页
    1.2 研究现状综述第17-28页
        1.2.1 温度载荷条件下电子设备加速试验方法研究现状第17-19页
        1.2.2 温度循环载荷条件下电子设备失效机理分析研究现状第19-21页
        1.2.3 温度循环载荷条件下电子设备可靠性模型研究现状第21-25页
        1.2.4 加速试验统计分析方法研究现状第25-26页
        1.2.5 加速试验方案优化设计方法研究现状第26-28页
    1.3 论文研究思路与内容安排第28-32页
        1.3.1 问题提出第28-30页
        1.3.2 研究思路第30页
        1.3.3 研究内容安排第30-32页
第二章 温度循环载荷条件下电子设备失效机理分析与可靠性建模第32-63页
    2.1 温度循环载荷条件下元器件类失效模式可靠性建模第32-36页
        2.1.1 元器件类失效模式的寿命分布第32-34页
        2.1.2 元器件类失效模式的加速模型第34页
        2.1.3 温度循环载荷条件下元器件类失效模式的可靠性模型第34-36页
    2.2 温度循环载荷条件下焊点疲劳类失效模式失效机理分析第36-50页
        2.2.1 温度载荷条件下QFP和BGA封装结构中焊点的应力分析第36-43页
        2.2.2 温度载荷条件下焊点材料的本构模型第43-45页
        2.2.3 温度循环载荷条件下焊点材料的蠕变分析第45-47页
        2.2.4 元器件-焊点-PCB结构在不同温度载荷条件下的有限元仿真分析第47-50页
    2.3 温度循环载荷条件下焊点疲劳类失效模式可靠性建模第50-56页
        2.3.1 焊点材料的常用疲劳寿命模型第50-55页
        2.3.2 基于改进Norris - Landzberg模型的焊点疲劳寿命模型第55页
        2.3.3 温度循环载荷条件下焊点疲劳类失效模式的可靠性模型第55-56页
    2.4 竞争失效模型第56-61页
        2.4.1 各失效模式相互独立情况下的竞争失效模型第57页
        2.4.2 基于copula函数的各失效模式相互关联情况下的竞争失效模型第57-61页
    2.5 本章小结第61-63页
第三章 竞争失效温度循环加速试验统计分析方法第63-84页
    3.1 基本假设第63-64页
    3.2 高、低温加速试验及其统计分析方法第64-71页
        3.2.1 高、低温加速试验方法的提出第64-65页
        3.2.2 高、低温加速试验极大似然统计分析方法第65-68页
        3.2.3 示例分析第68-71页
    3.3 竞争失效独立情况下温度循环加速试验统计分析方法第71-79页
        3.3.1 基于CEM模型的温度循环加速试验极大似然统计分析方法第71-74页
        3.3.2 基于等效失效率的竞争失效独立情况下温度循环加速试验数据Mont Carlo仿真方法第74-76页
        3.3.3 示例分析第76-79页
    3.4 竞争失效相关情况下温度循环加速试验统计分析方法第79-83页
        3.4.1 基于copula函数的温度循环加速试验IFM统计分析方法第80-81页
        3.4.2 示例分析第81-83页
    3.5 本章小结第83-84页
第四章 竞争失效温度循环加速试验方案优化设计方法第84-101页
    4.1 温度循环加速试验方案优化设计问题描述第84-88页
        4.1.1 温度循环加速试验方案的优化目标第84-85页
        4.1.2 温度循环加速试验方案的优化变量第85-87页
        4.1.3 温度循环加速试验方案优化设计的约束条件第87-88页
    4.2 基于解析的温度循环加速试验方案优化设计方法第88-94页
        4.2.1 基于解析的优化设计方法的基本理论第88-89页
        4.2.2 基于样本数量期望值的似然函数建立方法第89-92页
        4.2.3 各失效模式可靠性模型参数估计值的Fisher信息矩阵第92-93页
        4.2.4 温度循环加速试验方案的D优化方法和基于可靠性指标渐进方差的优化方法第93-94页
    4.3 基于Monte Carlo仿真的温度循环加速试验方案优化设计方法第94-95页
    4.4 示例分析第95-99页
        4.4.1 问题描述第95-96页
        4.4.2 试验条件第96页
        4.4.3 基于解析的D优化设计方法的优化结果第96-97页
        4.4.4 基于Monte Carlo仿真的优化设计方法的优化结果第97页
        4.4.5 各优化设计方法所得最优试验方案的对比分析第97-99页
    4.5 本章小结第99-101页
第五章 案例应用验证第101-114页
    5.1 概述第101-102页
    5.2 试验准备第102-106页
        5.2.1 试验对象第102-103页
        5.2.2 试验设备第103页
        5.2.3 测试方法第103-106页
    5.3 试验过程第106页
    5.4 试验数据处理与分析第106-113页
        5.4.1 基于伪失效寿命的加速退化试验统计分析方法第106-108页
        5.4.2 试验数据统计分析结果第108-113页
    5.5 本章小结第113-114页
第六章 结论与展望第114-119页
    6.1 研究结论第114-117页
        6.1.1 研究工作及结论第114-117页
        6.1.2 主要创新点第117页
    6.2 研究展望第117-119页
致谢第119-121页
参考文献第121-130页
作者在学期间取得的学术成果第130页

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