| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 研究背景 | 第10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-12页 |
| 1.3 论文研究内容及意义 | 第12-13页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第13-14页 |
| 第二章 嵌套混波室屏蔽效能测试 | 第14-32页 |
| 2.1 屏蔽效能测试设置 | 第14-17页 |
| 2.1.1 频率搅拌的参数设定 | 第14-16页 |
| 2.1.2 LabVIEW自动测试系统 | 第16-17页 |
| 2.2 设置不同扫描点测试屏蔽效能的重复性 | 第17-19页 |
| 2.2.1 不同扫描点数的频率搅拌测试 | 第17-18页 |
| 2.2.2 机箱的屏蔽效能 | 第18-19页 |
| 2.3 联合搅拌测试屏蔽效能的重复性 | 第19-22页 |
| 2.3.1 联合搅拌测试过程 | 第19-20页 |
| 2.3.2 联合搅拌测试小型机箱的屏蔽效能 | 第20-22页 |
| 2.4 嵌套混波室法测试屏蔽效能置信区间的确定 | 第22-31页 |
| 2.4.1 屏蔽效能的置信区间 | 第22-25页 |
| 2.4.2 置信区间与多次测试屏蔽效能 | 第25-29页 |
| 2.4.3 频率搅拌的采样点数 | 第29-31页 |
| 2.5 本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 宽带小型天线测试屏蔽效能 | 第32-45页 |
| 3.1 天线效率对屏蔽效率测试的影响 | 第32-35页 |
| 3.1.1 原理 | 第32-34页 |
| 3.1.2 测试天线的天线效率 | 第34-35页 |
| 3.2 微带天线测试屏蔽效能 | 第35-37页 |
| 3.3 时域法测试机箱屏蔽效能 | 第37-44页 |
| 3.3.1 时域法测试原理 | 第37-38页 |
| 3.3.2 实验参数设置 | 第38-39页 |
| 3.3.3 时域测试结果与频域结果比较 | 第39-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 天线位置对测试屏蔽效能的影响 | 第45-61页 |
| 4.1 原理 | 第45-52页 |
| 4.1.1 单极子天线在腔体拐角处接收到的电压 | 第45-49页 |
| 4.1.2 极限情况下的讨论 | 第49-50页 |
| 4.1.3 接收到的能量 | 第50-52页 |
| 4.2 单极子天线的位置对测试屏蔽效能影响 | 第52-59页 |
| 4.2.1 单极子天线在不同位置的屏蔽效能 | 第53-57页 |
| 4.2.2 天线与壁面的距离和波长的比值所对应的功率比 | 第57-59页 |
| 4.3 本章小结 | 第59-61页 |
| 第五章 加载问题研究 | 第61-74页 |
| 5.1 加载效应的场效应 | 第61-71页 |
| 5.1.1 加载机箱的Q值 | 第61-63页 |
| 5.1.2 加载物对机箱屏蔽效能的影响 | 第63-65页 |
| 5.1.3 加载物对机箱Q值的影响 | 第65-66页 |
| 5.1.4 加载物对机箱场分布的影响 | 第66-70页 |
| 5.1.5 加载物对测试独立采样数的影响 | 第70-71页 |
| 5.2 搅拌带宽对测试的影响 | 第71-73页 |
| 5.3 本章小结 | 第73-74页 |
| 第六章 总结与展望 | 第74-75页 |
| 6.1 总结 | 第74页 |
| 6.2 展望 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 作者简介 | 第78页 |