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基于CMOS工艺的频率综合器的设计

致谢第4-5页
摘要第5-6页
Abstract第6页
1 绪论第10-16页
    1.1 背景介绍第10-12页
        1.1.1 频率综合器简介第10-11页
        1.1.2 非接触式测量简介第11-12页
    1.2 国内外发展现状第12-14页
        1.2.1 PLL发展现状第12-13页
        1.2.2 FLL发展现状第13-14页
        1.2.3 非接触式测量发展现状第14页
    1.3 论文的主要工作第14-16页
        1.3.1 技术支持第14-15页
        1.3.2 主要内容第15-16页
2 锁相环和锁频环的系统概述第16-22页
    2.1 锁相环的系统介绍第16-19页
        2.1.1 锁相环的基本结构第16-17页
        2.1.2 锁相环的模型分析第17-19页
    2.2 锁频环的系统介绍第19-21页
        2.2.1 锁频环的基本结构第19-20页
        2.2.2 锁频环的模型分析第20-21页
    2.3 锁相环和锁频环的性能指标第21-22页
3 锁频环具体电路设计第22-48页
    3.1 频率电压转换电路的设计第22-28页
        3.1.1 频率电压转换电路的基本结构第22-24页
        3.1.2 改进的频率电压转换电路结构第24-26页
        3.1.3 本论文中频率电压转换电路和仿真结果第26-28页
    3.2 运算放大器的设计第28-36页
        3.2.1 运算放大器的性能参数第28-29页
        3.2.2 运算放大器的基本结构第29-30页
        3.2.3 运算放大器的补偿理论第30-33页
        3.2.4 运算放大器的电路和仿真结果第33-36页
    3.3 振荡器的设计第36-44页
        3.3.1 振荡器的基本介绍第36-37页
        3.3.2 振荡器的基本结构第37-39页
        3.3.3 振荡器的性能参数第39页
        3.3.4 压控振荡器的电路与仿真结果第39-44页
    3.4 其余模块设计第44-48页
        3.4.1 分频器的设计第44-45页
        3.4.2 输入缓冲电路设计第45-47页
        3.4.3 电压偏置和电流偏置设计第47-48页
4 锁频环的仿真与测试第48-57页
    4.1 锁频环的整体电路第48-50页
    4.2 锁频环的版图设计第50-52页
    4.3 锁频环的仿真结果第52-54页
    4.4 锁频环的测试结果第54-57页
5 一种用于LC振荡器特征参数的非接触式测量方法第57-70页
    5.1 芯片的接触式测量第57页
    5.2 芯片的非接触式测量第57-58页
    5.3 基于两个电感互感的非接触式测量第58-63页
        5.3.1 电感的互感现象第59页
        5.3.2 基于两个电感互感的非接触式测量第59-61页
        5.3.3 基于两个电感互感的非接触式测量的仿真与分析第61-63页
    5.4 基于三个电感互感的非接触式测量第63-70页
        5.4.1 三个电感的耦合效应第63-67页
        5.4.2 基于三个电感互感的非接触式测量仿真与分析第67-70页
6 总结和展望第70-71页
    6.1 工作总结第70页
    6.2 研究展望第70-71页
参考文献第71-74页
附录第74-76页
硕士期间科研成果第76页

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