无线终端总全向灵敏度的快速搜索算法设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 无线终端总测量研究与发展现状 | 第11-12页 |
| 1.2.1 国外研究与发展现状 | 第11页 |
| 1.2.2 国内研究与发展现状 | 第11-12页 |
| 1.3 国内外OTA测量仪器及环境简介 | 第12-14页 |
| 1.4 本文的主要研究内容和章节 | 第14-16页 |
| 1.4.1 主要研究内容 | 第14-15页 |
| 1.4.2 论文结构 | 第15-16页 |
| 第2章 OTA测试基础介绍以及测量原理分析 | 第16-26页 |
| 2.1 OTA测试系统 | 第16-19页 |
| 2.1.1 OTA测试坐标系统 | 第17页 |
| 2.1.2 测量转动系统 | 第17-19页 |
| 2.2 TRP测量原理 | 第19-20页 |
| 2.2.1 TRP的定义 | 第19页 |
| 2.2.2 TRP的推导过程 | 第19-20页 |
| 2.3 TIS测量原理 | 第20-24页 |
| 2.3.1 TIS定义 | 第20-21页 |
| 2.3.2 TIS推导过程 | 第21-23页 |
| 2.3.3 特殊情形下的TIS典型模型 | 第23-24页 |
| 2.4 方向图中数据积分转换 | 第24-25页 |
| 2.4.1 积分离散化 | 第24-25页 |
| 2.4.2 TRP和TIS积分离散 | 第25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 TIS扫频测量快速算法 | 第26-47页 |
| 3.1 快速TIS测量理论基础概述 | 第26-27页 |
| 3.2 辐射灵敏度扫频测量方法 | 第27-35页 |
| 3.2.1 建立误码率与接收机功率关系 | 第27-28页 |
| 3.2.2 误码率与接收功率的函数推导 | 第28-30页 |
| 3.2.3 辐射灵敏度扫频搜索 | 第30-32页 |
| 3.2.4 OTA环境下辐射灵敏度的获取 | 第32-35页 |
| 3.3 通带内天线平均增益测量 | 第35-45页 |
| 3.3.1 天线最大增益与平均增益关系 | 第35-36页 |
| 3.3.2 天线方向性系数特性 | 第36-39页 |
| 3.3.3 PIFA天线仿真分析 | 第39-43页 |
| 3.3.4 通带天线平均增益的测量方法 | 第43-45页 |
| 3.4 TIS扫频测量 | 第45-46页 |
| 3.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第4章 暗室校准与不确定度分析 | 第47-63页 |
| 4.1 暗室设计 | 第47-49页 |
| 4.1.1 暗室吸波材料 | 第47-48页 |
| 4.1.2 暗室屏蔽体 | 第48-49页 |
| 4.2 暗室静区校准条件 | 第49-50页 |
| 4.2.1 最小测试距离 | 第49-50页 |
| 4.2.2 测试所需设备 | 第50页 |
| 4.3 暗室静区校准基本测试流程 | 第50-54页 |
| 4.3.1 探头天线对称性测量 | 第51页 |
| 4.3.2 Phi轴纹波测试 | 第51-52页 |
| 4.3.3 Theta轴纹波测试 | 第52-54页 |
| 4.3.4 余弦修正方法 | 第54页 |
| 4.4 Rayzone1800暗室校准 | 第54-60页 |
| 4.4.1 Rayzone1800基本结构 | 第55页 |
| 4.4.2 校准所需设备 | 第55-56页 |
| 4.4.3 路损校准 | 第56-60页 |
| 4.5 不确定度分析 | 第60-62页 |
| 4.5.1 TRP测量不确定度分析 | 第61-62页 |
| 4.5.2 TIS测量不确定度分析 | 第62页 |
| 4.6 本章小结 | 第62-63页 |
| 第5章 测量结果分析 | 第63-66页 |
| 5.1 测试条件 | 第63页 |
| 5.2 GSM测试结果 | 第63-64页 |
| 5.3 WCDMA测试结果 | 第64-66页 |
| 总结与展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第73页 |
