微型零件高精度影像测量系统中关键技术研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-24页 |
| ·视觉检测技术概述 | 第9-11页 |
| ·影像测量技术 | 第11-18页 |
| ·影像测量技术及其发展趋势 | 第11-12页 |
| ·现有的高精度影像测量仪 | 第12-15页 |
| ·影像测量中的关键技术 | 第15-18页 |
| ·课题的背景与意义 | 第18-21页 |
| ·本课题的背景 | 第18-20页 |
| ·本课题的意义 | 第20-21页 |
| ·本文主要的研究工作及创新点 | 第21-24页 |
| 第二章 擒纵轮影像测量系统硬件设计 | 第24-35页 |
| ·硬件系统设计 | 第24-25页 |
| ·CCD 相机的设计选型 | 第25-27页 |
| ·光学镜头的设计 | 第27-31页 |
| ·系统光源的设计选型 | 第31-33页 |
| ·图像采集卡的选择 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 影像测量系统高精度调节技术研究 | 第35-49页 |
| ·光轴与物面垂直度的高精度调节 | 第35-42页 |
| ·几种垂直度调整方法的对比 | 第35-38页 |
| ·基于图像区域清晰度的垂直度检测 | 第38-42页 |
| ·物面精确对焦的高精度调节 | 第42-48页 |
| ·常用的清晰度评价函数 | 第42-45页 |
| ·基于图像插值的清晰度评价算法 | 第45-48页 |
| ·本章小结 | 第48-49页 |
| 第四章 图像边缘定位技术研究 | 第49-67页 |
| ·像素级边缘检测算法 | 第49-55页 |
| ·经典的微分边缘检测算子 | 第49-53页 |
| ·基于数学形态学的擒纵轮图像边缘提取 | 第53-55页 |
| ·亚像素级边缘定位技术 | 第55-66页 |
| ·基于矩的方法 | 第55-58页 |
| ·曲线曲面拟合或插值法 | 第58-62页 |
| ·基于模板相关的亚像素算法 | 第62-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 基于序列图像的超分辨率重建技术研究 | 第67-80页 |
| ·超分辨率重建技术概述 | 第67-69页 |
| ·基于固定微位移序列图像的超分辨率重建 | 第69-72页 |
| ·精确微位移成像技术 | 第69-71页 |
| ·基于精确微位移的超分辨率重建算法 | 第71-72页 |
| ·基于随机微位移序列图像的超分辨率重建 | 第72-75页 |
| ·亚像素错位图像序列的获取 | 第72-73页 |
| ·基于随机微位移的超分辨率重建算法 | 第73-75页 |
| ·超分辨率重建算法在影像测量技术中的应用 | 第75-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 二维影像测量系统的高精度标定技术研究 | 第80-91页 |
| ·二维影像测量系统的成像模型 | 第80-84页 |
| ·摄像机镜头的畸变模型 | 第80-82页 |
| ·理想成像模型 | 第82-84页 |
| ·高精度靶标的设计 | 第84-85页 |
| ·光学镜头的畸变矫正 | 第85-89页 |
| ·矫正畸变后的系统标定 | 第89-90页 |
| ·本章小结 | 第90-91页 |
| 第七章 擒纵轮参数计算与软件设计 | 第91-109页 |
| ·擒纵轮参数计算 | 第91-98页 |
| ·擒纵轮状态的预判断 | 第91-93页 |
| ·擒纵轮主要参数的计算方法 | 第93-98页 |
| ·软件设计 | 第98-102页 |
| ·擒纵轮测量实验 | 第102-108页 |
| ·本章小结 | 第108-109页 |
| 第八章 总结与展望 | 第109-113页 |
| ·全文总结 | 第109-111页 |
| ·工作展望 | 第111-113页 |
| 参考文献 | 第113-120页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第120-121页 |
| 致谢 | 第121页 |
