| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 目录 | 第6-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-30页 |
| ·引言 | 第14-15页 |
| ·IPMC 智能驱动材料的研究进展 | 第15-26页 |
| ·IPMC 现有制备技术 | 第15-23页 |
| ·基膜制备及改性 | 第15-19页 |
| ·基膜表面粗化处理 | 第19-20页 |
| ·IPMC 电极的制备与改性 | 第20-23页 |
| ·IPMC 的应用 | 第23-26页 |
| ·聚合物粘附材料的研究 | 第26-28页 |
| ·课题来源和研究意义以及本文主要研究工作 | 第28-30页 |
| ·课题来源 | 第28页 |
| ·课题的研究意义 | 第28-29页 |
| ·本文的主要研究工作 | 第29-30页 |
| 第二章 碳纳米管、石墨烯电极修饰的 IPMC 致动器制备及性能 | 第30-43页 |
| ·实验原理 | 第30-31页 |
| ·实验试剂及仪器 | 第31-32页 |
| ·实验试剂 | 第31页 |
| ·实验仪器 | 第31-32页 |
| ·石墨烯的制备 | 第32页 |
| ·氧化石墨的制备 | 第32页 |
| ·石墨烯的制备 | 第32页 |
| ·IPMC 的制备 | 第32-35页 |
| ·成膜原理 | 第32-33页 |
| ·Nafion 膜浇铸及预处理 | 第33-34页 |
| ·碳纳米管和石墨烯电极制备 | 第34页 |
| ·离子交换 | 第34-35页 |
| ·IPMC 性能测试平台 | 第35-37页 |
| ·信号发生模块 | 第35页 |
| ·测试模块 | 第35-36页 |
| ·位移测试模块 | 第35-36页 |
| ·输出力测试模块 | 第36页 |
| ·其它附属装置 | 第36-37页 |
| ·样品的性能测试及分析 | 第37-41页 |
| ·表面形貌分析 | 第37-39页 |
| ·位移输出结果与分析 | 第39-40页 |
| ·力输出结果与分析 | 第40-41页 |
| ·本章小结 | 第41-43页 |
| 第三章 Dow Corning 186 硅橡胶配制及性能研究 | 第43-51页 |
| ·实验试剂及仪器 | 第43-44页 |
| ·实验试剂 | 第43页 |
| ·实验仪器 | 第43-44页 |
| ·四种比例硅橡胶配制 | 第44页 |
| ·测试及分析 | 第44-50页 |
| ·ATR 测试结果和分析 | 第44-46页 |
| ·粘附性能测试和结果分析 | 第46-48页 |
| ·粘附性能测试 | 第46-48页 |
| ·粘附性能测试结果分析 | 第48页 |
| ·机械性能测试和结果分析 | 第48-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第四章 硅橡胶仿生刚毛阵列的表面单分子膜修饰改性 | 第51-63页 |
| ·实验原理 | 第51-52页 |
| ·实验试剂及仪器 | 第52-53页 |
| ·实验试剂 | 第52-53页 |
| ·实验仪器 | 第53页 |
| ·试验步骤 | 第53-55页 |
| ·仿生刚毛的制备 | 第53-55页 |
| ·单晶硅的刻蚀和处理 | 第53-54页 |
| ·硅橡胶仿壁虎刚毛的制备 | 第54-55页 |
| ·刚毛表面硅氢键的嵌入 | 第55页 |
| ·刚毛表面单分子膜修饰 | 第55页 |
| ·PEG 表面修饰实验步骤 | 第55页 |
| ·PTFE 表面修饰实验步骤 | 第55页 |
| ·测试结果分析 | 第55-62页 |
| ·扫描电镜图片及分析 | 第55-57页 |
| ·样品的红外光谱图分析 | 第57-59页 |
| ·刚毛的粘附性能测试和分析 | 第59-60页 |
| ·接触角测试及分析 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第五章 总结和展望 | 第63-65页 |
| ·本文主要工作及总结 | 第63-64页 |
| ·工作展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第71页 |