一种新型小体积高稳晶体振荡器
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-13页 |
| 第二章 晶体振荡器的原理及概况 | 第13-28页 |
| ·晶体振荡器的发展概况 | 第13页 |
| ·晶体振荡器的基本原理和分类 | 第13-21页 |
| ·晶体振荡器的基本原理 | 第13-19页 |
| ·石英晶体谐振器 | 第13-17页 |
| ·晶体振荡器 | 第17-18页 |
| ·晶体振荡器中振荡电路的类型 | 第18-19页 |
| ·晶体振荡器的分类 | 第19-21页 |
| ·晶体振荡器的现有技术水平和发展趋势 | 第21-23页 |
| ·晶振恒温技术的现有技术水平和发展趋势 | 第21-22页 |
| ·晶振温度补偿技术的现有技术水平和发展趋势 | 第22-23页 |
| ·晶体振荡器的频率温度特性 | 第23-26页 |
| ·恒温晶体振荡器的频率温度特性 | 第24-25页 |
| ·温度补偿晶体振荡器的频率温度特性 | 第25-26页 |
| ·本论文选题及研究内容 | 第26-28页 |
| 第三章 新型小体积高稳晶体振荡器的方案研究 | 第28-47页 |
| ·晶体振荡器的总体方案 | 第28-30页 |
| ·温补晶振电路的研究 | 第30-32页 |
| ·传统的温补晶振方案 | 第30-31页 |
| ·集成的温补晶振方案 | 第31-32页 |
| ·控温电路方案 | 第32-34页 |
| ·传统控温电路方案 | 第32-33页 |
| ·集成的控温电路方案 | 第33-34页 |
| ·微机补偿电路方案 | 第34-37页 |
| ·晶振的调试及测试系统方案 | 第37页 |
| ·程序方案及相关算法 | 第37-46页 |
| ·控温电路的 PID 控制数学模型 | 第37-38页 |
| ·曲线拟合算法 | 第38-42页 |
| ·晶振单片机的程序方案 | 第42-44页 |
| ·调试系统的程序方案 | 第44-46页 |
| ·测控板程序方案 | 第44页 |
| ·计算机界面控制程序方案 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 新型小体积高稳晶体振荡器的实现 | 第47-70页 |
| ·温补晶振电路设计 | 第47-49页 |
| ·高精度控温电路的实现 | 第49-61页 |
| ·高精度控温电路设计 | 第49-52页 |
| ·控温集成电路的特点 | 第52-54页 |
| ·控温电路的设定及计算机控制 | 第54-57页 |
| ·控温电路的热结构设计 | 第57-58页 |
| ·晶振控温后的频率温度特性分析 | 第58-61页 |
| ·微机补偿电路设计 | 第61-63页 |
| ·单片机的选用 | 第61-62页 |
| ·PWM 控制及滤波电路的设计 | 第62-63页 |
| ·晶振稳压电路的设计 | 第63-65页 |
| ·晶振调试及测试系统的设计 | 第65-69页 |
| ·系统整体组成 | 第65-66页 |
| ·多路晶振测控电路的设计 | 第66-67页 |
| ·计算机界面控制程序的设计 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第五章 产品的研制及结果分析 | 第70-78页 |
| ·产品的研制过程 | 第70-71页 |
| ·产品的调试 | 第71-75页 |
| ·产品的调试 | 第71-75页 |
| ·产品的常温调试 | 第71-72页 |
| ·产品的高低温调试 | 第72-75页 |
| ·产品测试结果 | 第75-77页 |
| ·产品照片 | 第77-78页 |
| 第六章 结论 | 第78-80页 |
| ·论文总结 | 第78-79页 |
| ·前景展望 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-83页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第83-84页 |
