深空探测AOTF红外成像光谱仪系统定标技术研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第1章 绪论 | 第12-28页 |
| ·课题背景与意义 | 第12-14页 |
| ·AOTF光谱仪 | 第14-22页 |
| ·成像光谱仪定标技术 | 第22-25页 |
| ·光谱定标 | 第22-23页 |
| ·辐射定标 | 第23-25页 |
| ·研究方向及论文安排 | 第25-28页 |
| 第2章 AOTF红外成像光谱仪(VNIS) | 第28-42页 |
| ·AOTF工作原理 | 第28-30页 |
| ·VNIS工作原理 | 第30-31页 |
| ·光谱仪地面检测软件 | 第31-33页 |
| ·AOTF红外成像光谱仪检测 | 第33-42页 |
| ·VNIS相关指标 | 第33页 |
| ·系统静态传函MTF | 第33-36页 |
| ·等效信噪比 | 第36-42页 |
| 第3章 AOTF性能检测系统 | 第42-76页 |
| ·背景与设计目标 | 第42页 |
| ·AOTF主要指标 | 第42-46页 |
| ·输出波长与驱动频率匹配 | 第42-43页 |
| ·衍射效率 | 第43-44页 |
| ·光谱分辨率 | 第44-45页 |
| ·角孔径 | 第45-46页 |
| ·AOTF透过率与角孔径测试系统 | 第46-47页 |
| ·AOTF性能检测系统 | 第47-48页 |
| ·系统构成与详细设计 | 第48-56页 |
| ·单色仪 | 第49-51页 |
| ·AOTF射频驱动器 | 第51-52页 |
| ·光电探测模块 | 第52-55页 |
| ·光学设计 | 第55-56页 |
| ·上位机软件 | 第56-66页 |
| ·模块功能 | 第56-61页 |
| ·测试流程规划 | 第61-65页 |
| ·光谱分辨率的两种获取方式的比较 | 第65-66页 |
| ·AOTF性能检测系统标定与检测 | 第66-69页 |
| ·光谱特性 | 第66-68页 |
| ·光源稳定性 | 第68页 |
| ·测试系统可重复性 | 第68-69页 |
| ·装机件AOTF晶体参数 | 第69-72页 |
| ·AOTF的抗空间辐照能力 | 第72-76页 |
| 第4章 深空探测AOTF红外成光谱仪数据预处理 | 第76-102页 |
| ·AOTF红外成像光谱仪有效信号提取 | 第76-82页 |
| ·数据采集描述 | 第76-77页 |
| ·SWIR通道暗电平 | 第77页 |
| ·VNIR通道图像椒盐噪声去除 | 第77-79页 |
| ·VNIR通道暗电平 | 第79-81页 |
| ·VNIR通道图像非均匀性校正 | 第81-82页 |
| ·光谱仪动态范围 | 第82-86页 |
| ·短波红外波段 | 第82-83页 |
| ·VNIR通道动态范围 | 第83-86页 |
| ·深空环境温度校正 | 第86-102页 |
| ·温度对光谱仪SWIR通道影响分析 | 第87-88页 |
| ·SWIR通道温度校正模型 | 第88-92页 |
| ·SWIR通道温度影响预处理模型验证 | 第92页 |
| ·温度对光谱仪VNIR通道影响分析 | 第92-94页 |
| ·VNIR通道暗电平图像均值仿真 | 第94-100页 |
| ·VNIR通道图像还原 | 第100-102页 |
| 第5章 AOTF红外成像光谱仪实验室定标与验证 | 第102-122页 |
| ·光谱定标 | 第102-105页 |
| ·基于AOTF分光原理的光谱定标 | 第102-103页 |
| ·光谱定标结果 | 第103-105页 |
| ·实验室辐射定标 | 第105-107页 |
| ·地面验证试验 | 第107-122页 |
| ·VNIS与ASD全波段光谱反射数据 | 第110-119页 |
| ·光谱反射率数据对比分析 | 第119-122页 |
| 第6章 总结与展望 | 第122-126页 |
| ·研究总结 | 第122-123页 |
| ·后续研究展望 | 第123-126页 |
| 参考文献 | 第126-132页 |
| 致谢 | 第132-134页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第134页 |
