光调制器驱动器低频噪声测试及其应用研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景 | 第7页 |
| ·动态及意义 | 第7-10页 |
| ·研究动态 | 第7-9页 |
| ·研究意义 | 第9-10页 |
| ·论文结构 | 第10-11页 |
| 第二章 光调制器驱动器的结构与特性 | 第11-21页 |
| ·MMIC简介 | 第11页 |
| ·光调制器驱动器的结构 | 第11-18页 |
| ·光调制器驱动器中的有源器件 | 第12-14页 |
| ·光调制器驱动器中的无源器件 | 第14-15页 |
| ·光调制器驱动器的电路结构 | 第15-18页 |
| ·光调制器驱动器基本电路特性 | 第18-20页 |
| ·源极跟随器 | 第18-19页 |
| ·差分放大电路 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 光调制器驱动器低频噪声测试 | 第21-37页 |
| ·测试样品 | 第21-24页 |
| ·OA4SMM4型号光驱动器 | 第21-22页 |
| ·2514DZ型号光驱动器 | 第22-24页 |
| ·光调制器驱动器低频噪声测试方案 | 第24-26页 |
| ·光调制器驱动器低频噪声测试与分析系统 | 第26-28页 |
| ·硬件部分 | 第27页 |
| ·软件部分 | 第27-28页 |
| ·测试结果 | 第28-31页 |
| ·光调制器驱动器低频噪声特性分析 | 第31-35页 |
| ·OA4SMM4光调制器驱动器样品测试结果分析 | 第31-34页 |
| ·2514DZ光调制器驱动器测试结果分析 | 第34-35页 |
| ·本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 光调制器驱动器低频噪声分析及应用 | 第37-59页 |
| ·光调制器驱动器低频噪声产生机理 | 第37-42页 |
| ·GaAs器件低频噪声产生机理 | 第37-38页 |
| ·GaAs器件低频噪声理论模型 | 第38-42页 |
| ·光调制器驱动器与内部GaAs器件低频噪声关系 | 第42-46页 |
| ·有源器件低频噪声电路模型 | 第42-43页 |
| ·有源器件噪声与电路噪声关系分析 | 第43-46页 |
| ·光调制器驱动器的低频噪声应用 | 第46-51页 |
| ·光调制器驱动器的可靠性 | 第46-49页 |
| ·噪声用于光调制器驱动器的可靠性表征 | 第49-50页 |
| ·低频噪声可靠性表征参量的提取 | 第50-51页 |
| ·噪声表征参量的验证 | 第51-55页 |
| ·静电放电(ESD)损伤 | 第51-52页 |
| ·ESD试验 | 第52-53页 |
| ·低频噪声测试结果 | 第53-55页 |
| ·噪声用于电路可靠性表征的一般性方法 | 第55-57页 |
| ·小结 | 第57-59页 |
| 第五章 总结与展望 | 第59-61页 |
| ·总结 | 第59-60页 |
| ·展望 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 研究生在读期间研究成果 | 第67页 |
