中文摘要 | 第1-5页 |
英文摘要 | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-13页 |
·LED 产业现状及发展前景 | 第9-10页 |
·LED 特性参数测试 | 第10-12页 |
·特性参数测试的意义 | 第10页 |
·特性参数测试的研究现状 | 第10-11页 |
·LED 参数测试存在的问题 | 第11-12页 |
·研究内容 | 第12-13页 |
2 LED 光强测试原理及系统设计 | 第13-28页 |
·光强测试原理及方法 | 第13-14页 |
·光电探测器工作原理 | 第14-17页 |
·光电探测器的物理效应 | 第14-16页 |
·光电转换定律 | 第16-17页 |
·光电探测器的性能参数 | 第17-20页 |
·PIN 光电二极管前置放大 | 第20-25页 |
·PIN 光电二极管的等效电路模型 | 第21-22页 |
·电流信号放大器噪声源分析 | 第22-23页 |
·放大滤波器的选择 | 第23-24页 |
·模拟开关选择 | 第24-25页 |
·LED 光强测试系统设计 | 第25-27页 |
·本章小结 | 第27-28页 |
3 LED 光谱参数测试及系统设计 | 第28-49页 |
·光谱测试应用中的一些光度参数 | 第28-29页 |
·光谱分布、峰值波长、光谱宽度和质心波长 | 第28页 |
·光通量 | 第28-29页 |
·反射式平面衍射光栅原理 | 第29-32页 |
·色散原理和色散方程 | 第29-30页 |
·角色散率和线色散率 | 第30页 |
·理论分辨率 | 第30-31页 |
·光谱级次和叠级 | 第31-32页 |
·光栅的横向放大率(角放大率) | 第32页 |
·成像系统 | 第32-35页 |
·艾伯特-法斯梯(Ebert-Fastie)成像系统 | 第32-33页 |
·切尔尼-特纳(Czerny-Turner)成像系统 | 第33-34页 |
·李特洛(Littrow)成像系统 | 第34页 |
·夏帕-格兰茨(Chupp-Grantz)成像系统 | 第34-35页 |
·多通道光谱测试常用探测器 | 第35-40页 |
·电荷耦合器件(CCD Charge-Coupled Device) | 第35-38页 |
·电荷注入器件(CID) | 第38-39页 |
·MOS 图像传感器 | 第39-40页 |
·系统设计方案 | 第40-48页 |
·光栅 | 第41-42页 |
·光学系统结构 | 第42-43页 |
·多通道探测器 | 第43-44页 |
·TCD1500C | 第44-46页 |
·CCD 驱动电路时序及仿真 | 第46-48页 |
·本章小结 | 第48-49页 |
4 数据采集及软件编程 | 第49-60页 |
·数据采集原理 | 第49-50页 |
·数据采集的基本概念 | 第49页 |
·采样、量化、编码、误差 | 第49-50页 |
·采样定理与频率迭混 | 第50页 |
·采样方式 | 第50页 |
·数据采集卡 | 第50-54页 |
·数据采集卡的重要参数 | 第50-51页 |
·USB2004 数据采集卡 | 第51-52页 |
·USB2004 具体执行流程 | 第52-54页 |
·模块设计 | 第54-55页 |
·数据采集模块 | 第54-55页 |
·数据处理和分析模块 | 第55页 |
·数据管理模块 | 第55页 |
·软件系统 | 第55-59页 |
·LabVIEW 概述 | 第56-57页 |
·软件实现 | 第57-58页 |
·系统实现面板 | 第58-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
5 测试结果及误差分析 | 第60-72页 |
·系统测试定标 | 第60-62页 |
·光度定标 | 第60页 |
·波长定标 | 第60-62页 |
·LED 测试结果 | 第62-67页 |
·LED 光强测试结果 | 第62-65页 |
·光谱参数测试结果 | 第65-67页 |
·测试结果误差分析 | 第67-71页 |
·光强测量不确定度评定 | 第68-69页 |
·光谱测量误差分析 | 第69-71页 |
·本章小结 | 第71-72页 |
6 总结与展望 | 第72-73页 |
·论文总结 | 第72页 |
·展望 | 第72-73页 |
致谢 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-77页 |
附录 | 第77-78页 |
作者在攻读硕士学位期间发表论文 | 第77-78页 |
独创性声明 | 第78页 |
学位论文版权使用授权书 | 第78页 |