摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-11页 |
第一章 绪论 | 第11-47页 |
·RFQ 加速器及其应用 | 第11-18页 |
·RFQ 加速器及其发展 | 第11-12页 |
·RFQ 加速器的应用:高功率质子加速器 | 第12-15页 |
·RFQ 加速器的应用:小型强中子源 | 第15-16页 |
·北京大学的RFQ 加速器 | 第16-18页 |
·ECR 离子源 | 第18-30页 |
·ECR 离子源的工作原理 | 第18-19页 |
·ECR 离子源的基本结构 | 第19-24页 |
·ECR 离子源的主要性能参数 | 第24-26页 |
·ECR 离子源的发展概况 | 第26-28页 |
·北京大学的ECR 离子源 | 第28-30页 |
·强流离子束的低能束流输运(LEBT) | 第30-34页 |
·强流LEBT 技术 | 第30-31页 |
·LEBT 实验台 | 第31-32页 |
·北京大学的LEBT 研究 | 第32-34页 |
·束流发射度及其测量 | 第34-41页 |
·发射度的基本概念 | 第34-37页 |
·发射度的测量方法 | 第37-40页 |
·发射度测量仪的发展概况 | 第40-41页 |
·北京大学的发射度测量工作 | 第41页 |
·本论文工作简介 | 第41-47页 |
·北京大学的基于RFQ 加速器的中子照相装置研究 | 第41-43页 |
·本论文研究工作的意义及主要内容 | 第43-44页 |
·本论文的创新之处与特色 | 第44-47页 |
第二章 电扫描型单缝单丝强流离子束发射度测量仪 | 第47-85页 |
·工作原理和系统构成 | 第47-52页 |
·基本测量原理 | 第47-48页 |
·系统构成 | 第48-49页 |
·测量过程与发射度计算 | 第49-50页 |
·强流脉冲离子束发射度测量的主要问题 | 第50-52页 |
·发射度仪硬件的设计与调试 | 第52-60页 |
·发射度仪的物理设计 | 第52-54页 |
·基本考虑 | 第52-53页 |
·测量误差 | 第53-54页 |
·主要参数的确定 | 第54页 |
·发射度仪结构设计 | 第54-57页 |
·发射度仪硬件的调试 | 第57-60页 |
·发射度仪软件的设计和数据处理方法研究 | 第60-72页 |
·软件功能和人机界面设计 | 第60-66页 |
·测量部分 | 第60-62页 |
·数据处理部分 | 第62-65页 |
·对已经处理过的数据进行发射度计算等 | 第65页 |
·文件系统 | 第65-66页 |
·测量流程和基本的数据处理方法 | 第66-67页 |
·脉冲束流发射度的测量方法和数据处理 | 第67-69页 |
·强流离子束发射度测量的数据处理 | 第69-72页 |
·ECR 离子源发射度测量 | 第72-83页 |
·ECR 质子源发射度的测量和实验研究 | 第72-79页 |
·实验台布局 | 第72-73页 |
·发射度测量结果 | 第73-79页 |
·LEBT 束流发射度的测量与实验研究 | 第79-81页 |
·ECR 氧离子源发射度的测量和实验研究 | 第81-83页 |
·氧离子实验台布局 | 第82页 |
·发射度测量结果 | 第82-83页 |
·小结 | 第83-85页 |
第三章 ECR 离子源的离子比测量 | 第85-117页 |
·ECR 质子源及质子比测量装置 | 第85-88页 |
·质子比的测量方法 | 第88-95页 |
·微波ECR 离子源一个束流脉冲内质子比的变化规律 | 第88-90页 |
·平均质子比和平顶质子比的测量方法 | 第90-91页 |
·脉宽和微波功率对平均质子比RA 的影响 | 第91-93页 |
·LEBT 实验台上的质子比测量 | 第93-95页 |
·测量误差 | 第95页 |
·质子比的测量结果:离子源运行参数的影响 | 第95-99页 |
·真空度(离子源进气量)对质子比的影响 | 第95-97页 |
·微波功率对质子比的影响 | 第97-98页 |
·引出电压对质子比的影响 | 第98-99页 |
·质子比的测量结果:长台和短台的比较 | 第99-100页 |
·质子比测量结果:离子源体内衬的影响 | 第100-107页 |
·不同内衬材料质子比和流强的影响 | 第101-103页 |
·陶瓷材料质子比测量结果 | 第103-105页 |
·实验的重复性 | 第105-106页 |
·尺寸相等的不同内衬材料对质子比和流强的影响 | 第106-107页 |
·质子比测量结果:离子源PMECR-II 和PMECR-IV 比较 | 第107-108页 |
·ECR 氧离子源引出束流中单电荷氧原子离子比的测量 | 第108-116页 |
·测量装置 | 第108-110页 |
·测量方法:积分法与峰值法 | 第110-113页 |
·测量结果 | 第113-116页 |
·小结 | 第116-117页 |
第四章 结论 | 第117-121页 |
参考文献 | 第121-127页 |
附录 发射度测量仪软件程序 | 第127-157页 |
攻读博士期间发表的论文 | 第157-159页 |
致谢 | 第159-161页 |