| 中文摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-20页 |
| ·半导体封装中的ESD 现象及危害 | 第7-13页 |
| ·三种主要的ESD 放电模式及特点 | 第13-20页 |
| 第二章 ESD CDM 静电测试方法及故障判断 | 第20-31页 |
| ·CDM 静电测试的充放电模式 | 第20-21页 |
| ·静电放电的测试组合 | 第21-26页 |
| ·器件静电放电故障判断 | 第26-28页 |
| ·静电放电故障临界电压及静电敏感度分类 | 第28-30页 |
| ·本章结论 | 第30-31页 |
| 第三章 CDM 测试实验系统及波形校验 | 第31-42页 |
| ·CDM 静电放电测试平台简介 | 第31-37页 |
| ·CDM 静电放电波形校验 | 第37-39页 |
| ·CDM 波形校验中存在的问题及实验研究方案 | 第39-42页 |
| 第四章 CDM 放电 LRC 模型 | 第42-46页 |
| ·CDM 放电 LRC 模型的搭建 | 第42-43页 |
| ·LRC 回路总电阻，电容，电感的计算 | 第43-45页 |
| ·本章结论 | 第45-46页 |
| 第五章 ESD CDM 放电模式测试条件的实验研究 | 第46-52页 |
| ·放电标准电容模块的影响 | 第46页 |
| ·充电盘介电层的影响 | 第46-48页 |
| ·测试探针长度的影响 | 第48-49页 |
| ·测试探针性状的影响 | 第49-50页 |
| ·测试探针直径的影响 | 第50页 |
| ·本章结论 | 第50-52页 |
| 第六章 结论 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-54页 |
| 附录1 放电峰值电流ＩP1实验数据 | 第54-57页 |
| 攻读学位期间本人公开发表的论文 | 第57-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 详细摘要 | 第59-61页 |