| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章. 绪论 | 第7-13页 |
| ·课题的背景与来源 | 第7-8页 |
| ·课题研究的意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9页 |
| ·研究工作 | 第9-11页 |
| ·文章结构 | 第11-13页 |
| 第二章. TFT-LCD驱动控制芯片概况与测试难点分析 | 第13-22页 |
| ·TFT-LCD驱动控制芯片概况 | 第13-18页 |
| ·基本功能及发展趋势 | 第13-14页 |
| ·结构 | 第14-15页 |
| ·电路 | 第15-16页 |
| ·性能 | 第16-17页 |
| ·工艺 | 第17-18页 |
| ·封装 | 第18页 |
| ·测试难点归纳与分析 | 第18-21页 |
| ·小结 | 第21-22页 |
| 第三章. TFT-LCD驱动控制芯片测试需求分析和测试方案选择 | 第22-31页 |
| ·TFT-LCD驱动控制芯片测试需求分析 | 第22-26页 |
| ·测试方案选择的考虑因素 | 第26-27页 |
| ·成本分析 | 第27-28页 |
| ·驱动控制芯片完整测试评价方案 | 第28-29页 |
| ·Wafer测试阶段的测试分类及测试目标 | 第29-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 第四章. TFT-LCD驱动控制芯片测试及可测试设计技术研究 | 第31-51页 |
| ·测试和可测性设计的概念和作用 | 第31-32页 |
| ·片内异步逻辑的测试及可测试技术研究 | 第32-37页 |
| ·驱动控制芯片异步逻辑分析 | 第32页 |
| ·数字电路测试方法分析 | 第32-34页 |
| ·异步逻辑的测试方法分析及测试电路设计 | 第34-36页 |
| ·测试图形生成策略 | 第36-37页 |
| ·内置图形 SRAM测试技术研究 | 第37-43页 |
| ·内置图形 SRAM结构与分析 | 第37-38页 |
| ·嵌入式存储器测试方法分析 | 第38-39页 |
| ·内置图形 SRAM测试方法分析和测试电路设计 | 第39-43页 |
| ·电源电路的测试技术研究 | 第43-47页 |
| ·驱动控制芯片内置电源电路分析 | 第43-44页 |
| ·模拟集成电路的测试方法分析 | 第44-46页 |
| ·内置电源电路测试方法分析和测试电路设计策略 | 第46-47页 |
| ·显示驱动电路的测试技术研究 | 第47-49页 |
| ·显示驱动电路结构分析 | 第47页 |
| ·DAC电路测试方法分析 | 第47-48页 |
| ·GATE Driver测试方法 | 第48页 |
| ·显示驱动电路测试分析及测试电路生成策略 | 第48-49页 |
| ·模拟电路测试图形生成策略 | 第49-50页 |
| ·小结 | 第50-51页 |
| 第五章 TFT-LCD驱动控制芯片测试实践 | 第51-67页 |
| ·LCD专用测试机台介绍 | 第51-55页 |
| ·硬件资源 | 第51-54页 |
| ·软件环境 | 第54-55页 |
| ·TDL基础 | 第55-61页 |
| ·TDL程序框架 | 第55页 |
| ·TDL程序 | 第55-58页 |
| ·PATTERN程序 | 第58-60页 |
| ·测试定时 | 第60-61页 |
| ·负载板与探针卡 | 第61-62页 |
| ·负载板 | 第61-62页 |
| ·探针卡 | 第62页 |
| ·制造过程的测试程序 | 第62-63页 |
| ·测试过程 | 第63-64页 |
| ·测试优化 | 第64-65页 |
| ·测试质量评价 | 第65-67页 |
| 第六章. 结束语 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 硕士期间发表的论文和参加的工作 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
