摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-10页 |
第一章 前言 | 第10-16页 |
§1-1 全球能源形势 | 第10-11页 |
1-1-1 能源危机 | 第10页 |
1-1-2 太阳能的优势 | 第10-11页 |
§1-2 太阳电池的发展 | 第11-15页 |
1-2-1 太阳电池发展历史和现状 | 第11-12页 |
1-2-2 太阳电池的研究概况 | 第12-13页 |
1-2-3 世界太阳电池的分类及份额 | 第13-15页 |
§1-3 本论文的主要研究内容 | 第15页 |
参考文献 | 第15-16页 |
第二章 太阳电池的基本理论 | 第16-26页 |
§2-1 光电转换过程 | 第16-17页 |
2-1-1 光的反射与折射 | 第16页 |
2-1-2 半导体中的光吸收 | 第16-17页 |
2-1-3 P-N 结的形成 | 第17页 |
§2-2 半导体中的复合过程 | 第17-20页 |
2-2-1 直接复合 | 第17-18页 |
2-2-2 间接复合 | 第18-19页 |
2-2-3 俄歇复合 | 第19页 |
2-2-4 表面复合 | 第19页 |
2-2-5 通过复合中心复合 | 第19-20页 |
§2-3 太阳电池的工作原理 | 第20-24页 |
2-3-1 光生伏特效应 | 第20-21页 |
2-3-2 太阳电池的基本参数 | 第21-24页 |
2-3-3 影响电池效率的因素 | 第24页 |
§2-4 太阳光谱 | 第24页 |
参考文献 | 第24-26页 |
第三章 太阳电池制备工艺及相关测试技术 | 第26-35页 |
§3-1 常规太阳电池制备工艺 | 第26-30页 |
3-1-1 化学清洗 | 第26-27页 |
3-1-2 扩散 | 第27-30页 |
3-1-3 真空镀膜法的基本原理和设备 | 第30页 |
§3-2 测试手段 | 第30-34页 |
3-2-1 光电导衰减法测试硅片少子寿命 | 第30-32页 |
3-2-2 电池性能的测试 | 第32-33页 |
3-2-3 电池量子效率的测量 | 第33-34页 |
参考文献 | 第34-35页 |
第四章 非晶硅/单晶硅异质结太阳电池的研究 | 第35-48页 |
§4-1非晶硅/单晶硅异质结太阳电池简介 | 第35-39页 |
4-1-1 研究背景 | 第35页 |
4-1-2 非晶硅/单晶硅异质结电池(HIT)结构简介 | 第35-39页 |
§4-2一些国家非晶硅/单晶硅异质结太阳电池的研究现状 | 第39-40页 |
§4-3 制备(n) a-Si/(p)c-Si HIT 太阳电池 | 第40-46页 |
4-3-1 HIT 太阳电池的制备过程 | 第40-42页 |
4-3-2 HIT 太阳电池的暗特性的研究 | 第42-44页 |
4-3-3 HIT 太阳电池的光电性能测试 | 第44-45页 |
4-3-4 透明导电膜不同的HIT 电池的比较 | 第45页 |
4-3-5 新结构的HIT 太阳电池的构想 | 第45-46页 |
§4-4 本章小结 | 第46页 |
参考文献 | 第46-48页 |
第五章 非晶硅/单晶硅异质结太阳电池中透明导电膜的研究 | 第48-71页 |
§5-1 透明导电膜的种类及特点 | 第48-49页 |
§5-2 透明导电膜在太阳能电池的应用 | 第49-51页 |
5-2-1 减反射膜的原理 | 第49-51页 |
§5-3 TCO 制备工艺和实验设备 | 第51-52页 |
5-3-1 磁控溅射工艺原理 | 第51-52页 |
5-3-2 实验设备 | 第52页 |
§5-4 ITO 薄膜的制备过程 | 第52-53页 |
5-4-1 样品预处理 | 第52-53页 |
5-4-2 实验过程 | 第53页 |
§5-5 薄膜性能的测试原理 | 第53-56页 |
§5-6 ITO 薄膜的研究 | 第56-69页 |
5-6-1 衬底温度对 ITO 性能的影响 | 第56-59页 |
5-6-2 射频功率对 ITO 性能的影响 | 第59-61页 |
5-6-3 溅射气压对 ITO 性能的影响 | 第61-63页 |
5-6-4 沉积时间对 ITO 性能的影响 | 第63-65页 |
5-6-5 退火对 ITO 性能的影响 | 第65-68页 |
5-6-6 ITO 薄膜对电池性能的影响 | 第68-69页 |
§5-7 本章小结 | 第69页 |
参考文献 | 第69-71页 |
第六章 结论 | 第71-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第73页 |