薄膜X射线测厚仪的设计与开发
| 第一章 绪论 | 第1-25页 |
| ·测厚仪研究背景和发展现状 | 第13-23页 |
| ·X射线测厚仪在薄膜生产中的应用 | 第23页 |
| ·课题的意义 | 第23-24页 |
| ·本论文完成的主要工作 | 第24-25页 |
| 第二章 X射线测厚仪的硬件设计 | 第25-61页 |
| ·工作原理和总体结构设计 | 第25-30页 |
| ·双向拉伸薄膜生产线的工艺介绍 | 第25-26页 |
| ·测厚仪工作原理 | 第26-29页 |
| ·总体结构的设计 | 第29-30页 |
| ·发射装置的设计 | 第30-33页 |
| ·X射线管 | 第30-31页 |
| ·高压发生装置和灯丝调节电路 | 第31-32页 |
| ·信号采集模块 | 第32页 |
| ·电源板 | 第32页 |
| ·制冷系统 | 第32-33页 |
| ·接收装置的设计 | 第33-37页 |
| ·探测器的选择和设计 | 第34-35页 |
| ·闪烁晶体 | 第35-36页 |
| ·光电倍增管 | 第36页 |
| ·前置放大器 | 第36-37页 |
| ·信号采集模块 | 第37页 |
| ·电源板 | 第37页 |
| ·制冷系统 | 第37页 |
| ·机械传动结构的设计 | 第37-41页 |
| ·机械结构的设计 | 第37-38页 |
| ·传动系统的设计 | 第38-41页 |
| ·电气控制系统的设计 | 第41-56页 |
| ·主控单元的设计和选型 | 第42-47页 |
| ·控制系统的设计 | 第47-51页 |
| ·电气系统的设计 | 第51-53页 |
| ·系统测厚程序的设计 | 第53-54页 |
| ·机械校正功能的设计和实现 | 第54-55页 |
| ·数据处理 | 第55-56页 |
| ·操作终端的设计 | 第56-60页 |
| ·操作终端的选型和设计 | 第56-57页 |
| ·操作终端的功能设计 | 第57-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 第三章 X射线测厚仪的软件设计 | 第61-71页 |
| ·上位机监控软件的介绍 | 第61-65页 |
| ·监控软件的功能设计 | 第65-70页 |
| ·主监控界面 | 第65-66页 |
| ·系统配置 | 第66-70页 |
| ·远程控制 | 第70页 |
| ·小结 | 第70-71页 |
| 第四章 测试结果和分析 | 第71-75页 |
| ·静态测试 | 第71-73页 |
| ·动态测试 | 第73页 |
| ·现场测试和运行效果 | 第73-74页 |
| ·小结 | 第74-75页 |
| 第五章 总结与展望 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 研究成果及发表的学术论文 | 第81-82页 |
| 作者和导师简介 | 第82-83页 |
| 硕士研究生学位论文答辩委员会换议书 | 第83-84页 |
