| 目录 | 第1-18页 |
| 第一章 电接触材料研究进展 | 第18-41页 |
| 1．1 电接触材料简介 | 第18-27页 |
| 1．1．1 开关电器对触头材料的基本要求 | 第19-20页 |
| 1．1．2 常用触头材料应用现状及研究进展 | 第20-24页 |
| 1．1．3 触头材料基本制造工艺 | 第24-25页 |
| 1．1．4 触头材料的新工艺、新技术 | 第25-27页 |
| 1．2 纳米技术在制备电接触材料中的应用 | 第27-32页 |
| 1．2．1 纳米技术在Cu基合金触头材料中的应用 | 第28-30页 |
| 1．2．2 纳米技术在Ag基合金触头材料中的应用 | 第30-32页 |
| 1．3 化学镀制备电接触材料研究进展 | 第32-33页 |
| 1．4 本论文课题的提出 | 第33-37页 |
| 参考文献 | 第37-41页 |
| 第二章 研究内容和研究方法 | 第41-56页 |
| 2．1 试验的技术方案及路线 | 第41-43页 |
| 2．2 高能球磨技术及基本原理 | 第43-46页 |
| 2．2．1 高能球磨技术简介 | 第43页 |
| 2．2．2 高能球磨和机械合金化技术原理 | 第43-46页 |
| 2．2．3 行星式球磨机简介 | 第46页 |
| 2．3 还原剂液相喷雾化学镀技术及其基本原理 | 第46-54页 |
| 2．3．1 化学镀技术 | 第47页 |
| 2．3．2 化学镀银液的组成及反应机理 | 第47-49页 |
| 2．3．3 还原剂液相喷雾化学镀技术 | 第49-54页 |
| 参考文献 | 第54-56页 |
| 第三章 粉体制备及其表征 | 第56-65页 |
| 3．1 试验原料及仪器 | 第56页 |
| 3．2 粉体表征仪器及晶粒度分析 | 第56-57页 |
| 3．3 纳米石墨粉的制备 | 第57页 |
| 3．4 纳米晶AgC包覆粉的制备 | 第57-59页 |
| 3．5 粉体表征 | 第59-63页 |
| 3．5．1 球磨纳米石墨粉的表征及球磨时间的影响 | 第59-62页 |
| 3．5．2 纳米晶AgC包覆粉的表征及球磨时间的影响 | 第62-63页 |
| 3．6 本章小结 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-65页 |
| 第四章 AgC块体触头及其机械物理性能 | 第65-84页 |
| 4．1 AgC触头的粉末冶金制备工艺 | 第65-66页 |
| 4．1．1 压制 | 第65-66页 |
| 4．1．2 烧结 | 第66页 |
| 4．1．3 复压 | 第66页 |
| 4．2 块体触头机械物理性能测试 | 第66-69页 |
| 4．2．1 密度 | 第66-67页 |
| 4．2．2 电阻率 | 第67-69页 |
| 4．2．3 硬度 | 第69页 |
| 4．3 试验结果及分析 | 第69-81页 |
| 4．3．1 高能球磨时间对制备AgC触头机械物理性能和组织的影响 | 第69-71页 |
| 4．3．2 烧结温度对AgC触头机械物理性能的影响 | 第71-73页 |
| 4．3．3 制粉工艺对AgC触头机械物理性能及组织的影响 | 第73-80页 |
| 4．3．4 纳米晶包覆粉对常规AgC触头机械物理性能的影响 | 第80-81页 |
| 4．4 本章小结 | 第81-83页 |
| 参考文献 | 第83-84页 |
| 第五章 新型AgC触头电弧磨损性能研究 | 第84-109页 |
| 5．1 Ag基触头材料电弧作用下的失效及其机理 | 第84-89页 |
| 5．1．1 电弧作用的理论依据 | 第84-86页 |
| 5．1．2 四个体系Ag基触头材料的电弧作用 | 第86-89页 |
| 5．2 触头电弧磨损试验 | 第89-92页 |
| 5．2．1 试验装置 | 第89-90页 |
| 5．2．2 试验方案及材料 | 第90-91页 |
| 5．2．3 试验参数 | 第91-92页 |
| 5．3 试验结果及分析 | 第92-104页 |
| 5．3．1 方案一试验结果 | 第92-93页 |
| 5．3．2 方案二试验结果 | 第93-94页 |
| 5．3．3 分断试验后组织观察分析 | 第94-97页 |
| 5．3．4 新型AgC触头电弧磨损特征 | 第97-104页 |
| 5．4 本章小结 | 第104-106页 |
| 参考文献 | 第106-109页 |
| 第六章 型式开关(断路器)试验及应用 | 第109-127页 |
| 6．1 低压断路器的原理与构造 | 第109-113页 |
| 6．1．1 断路器的结构 | 第109-110页 |
| 6．1．2 断路器的工作原理(以热-磁型断路器为例) | 第110-111页 |
| 6．1．3 断路器的主要技术性能和参数 | 第111-112页 |
| 6．1．4 断路器的短路分断能力试验 | 第112-113页 |
| 6．2 施耐德(Schneider)小型断路器测试 | 第113-118页 |
| 6．2．1 测试参数 | 第113-114页 |
| 6．2．2 测试结果 | 第114-118页 |
| 6．2．3 测试结果分析 | 第118页 |
| 6．3 ABB小型断路器测试 | 第118-125页 |
| 6．3．1 测试参数 | 第118-119页 |
| 6．3．2 测试结果 | 第119-123页 |
| 6．3．3 测试结果分析 | 第123-125页 |
| 6．4 应用情况 | 第125页 |
| 6．5 本章小结 | 第125-126页 |
| 参考文献 | 第126-127页 |
| 第七章 碳纳米管增强新型AgC触头材料的试验研究 | 第127-141页 |
| 7．1 试验 | 第127-128页 |
| 7．2 试验结果讨论和分析 | 第128-138页 |
| 7．2．1 碳纳米管形貌观察 | 第128-129页 |
| 7．2．2 碳纳米管增强Ag-5%C包覆粉X衍射测试及SEM形貌观察 | 第129-131页 |
| 7．2．3 碳纳米管增强Ag-5%C触头机械物理性能测试及金相组织观察 | 第131-132页 |
| 7．2．4 碳纳米管增强Ag-5%C触头电弧磨损性能性能测试 | 第132-133页 |
| 7．2．5 碳纳米管增强Ag-5%C触头电弧磨损显微组织分析 | 第133-138页 |
| 7．3 本章小结 | 第138-140页 |
| 参考文献 | 第140-141页 |
| 第八章 结论 | 第141-148页 |
| 致谢 | 第148-149页 |
| 作者攻读博士学位期间发表的论文和申请的专利 | 第149页 |
