文中出现的符号 | 第1-8页 |
文中出现的缩写词 | 第8-9页 |
论文中插图索引 | 第9-10页 |
论文中表格索引 | 第10-11页 |
第一章 绪论 | 第11-19页 |
·课题来源 | 第11页 |
·研究目的及意义 | 第11-12页 |
·理论依据 | 第12-16页 |
·微裂纹前缘应力场强度因子K的各向异性 | 第12-13页 |
·K的各向异性程度 | 第13-14页 |
·原因分析 | 第14-16页 |
·现有基础 | 第16-18页 |
·模拟部分 | 第16-18页 |
·试验部分 | 第18页 |
·拟解决的问题 | 第18-19页 |
第二章 模拟程序设计 | 第19-28页 |
·材料微结构的产生 | 第19-20页 |
·等效与简化说明 | 第19-20页 |
·多晶体结构的模拟 | 第20页 |
·模拟程序设计 | 第20-25页 |
·CIPKA软件简介及其与本模拟程序之间的关系 | 第20-21页 |
·流程图 | 第21-22页 |
·模拟程序中的几个关键部分 | 第22-25页 |
·结果分析 | 第25-28页 |
第三章 OIM试验 | 第28-66页 |
·试验目的 | 第28页 |
·取向成像及电子背散射衍射图谱简介 | 第28-32页 |
·取向成像显微技术定义及设备简介 | 第28-30页 |
·电子背散射衍射原理 | 第30-32页 |
·试验中涉及到的相关概念及定义 | 第32-46页 |
·欧拉角与欧拉空间 | 第32-33页 |
·欧拉变换[Euler's Transformation] | 第33-34页 |
·晶体的取向 | 第34页 |
·取向的表示方法 | 第34-36页 |
·织构的概念 | 第36-37页 |
·织构定义 | 第37页 |
·择优取向度(织构程度): | 第37-38页 |
·织构类型 | 第38页 |
·织构的表示方法 | 第38-43页 |
·重位点阵 | 第43-44页 |
·大角晶界与小角晶界 | 第44-46页 |
·选材 | 第46-47页 |
·点阵常数的确定 | 第47-48页 |
·试样制备 | 第48-59页 |
·试样尺寸 | 第48-49页 |
·试样的切割及注意事项 | 第49-50页 |
·镶样 | 第50-51页 |
·试样的预磨 | 第51-52页 |
·抛光 | 第52-59页 |
·重构取向图及数据处理 | 第59-63页 |
·取向图的获得 | 第59-62页 |
·数据处理 | 第62-63页 |
·试验结果小结 | 第63-66页 |
·OIM-EBSD的应用 | 第63页 |
·EBSPs的识别 | 第63-65页 |
·取向图 | 第65-66页 |
第四章 结论 | 第66-67页 |
·模拟程序设计 | 第66页 |
·试验工作及收获 | 第66-67页 |
后续工作及展望 | 第67-69页 |
★ 图像分析 | 第67页 |
★ 数字化图像及其应用 | 第67页 |
★ 微裂纹开裂判据的建立 | 第67-68页 |
★ OIM-MAP程序进一步改进的思路 | 第68-69页 |
致谢 | 第69页 |
硕士期间发表论文 | 第69-70页 |
参考文献 | 第70-73页 |