| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-25页 |
| ·生丝匀度检验的发展概述 | 第9-10页 |
| ·匀度的重要性 | 第9页 |
| ·匀度检验的发展概述 | 第9-10页 |
| ·生丝匀度黑板检验 | 第10-12页 |
| ·匀度检验原理 | 第10-11页 |
| ·匀度检验方法 | 第11-12页 |
| ·黑板检验缺陷 | 第12页 |
| ·生丝匀度电子检测 | 第12-20页 |
| ·生丝电子检测的由来 | 第12-13页 |
| ·国内外生丝匀度电子检测现状 | 第13-20页 |
| ·生丝匀度检验标准 | 第20-23页 |
| ·生丝匀度黑板检验标准 | 第20-22页 |
| ·生丝匀度电子检测标准 | 第22-23页 |
| ·本论文的主要研究内容与目的 | 第23-25页 |
| 第二章 光电式传感器测量原理分析 | 第25-36页 |
| ·电容式生丝匀度检测原理 | 第25-26页 |
| ·光电式生丝匀度检测原理 | 第26-27页 |
| ·实验数据采集 | 第27-32页 |
| ·编程软件LabVIEW 简介 | 第27页 |
| ·实验数据采集设备 | 第27-29页 |
| ·实验数据采集条件 | 第29-32页 |
| ·实验数据分析 | 第32-36页 |
| ·生丝匀度CV%的计算公式 | 第32-33页 |
| ·实验数据对比分析 | 第33-36页 |
| 第三章 疵点对生丝匀度CV%的影响 | 第36-45页 |
| ·生丝疵点的分类 | 第36页 |
| ·生丝疵点的编程思路 | 第36-37页 |
| ·去除生丝疵点的编程方法 | 第37-39页 |
| ·疵点对生丝匀度CV%的影响分析 | 第39-45页 |
| ·长丝条干仪测量结果分析 | 第39-41页 |
| ·不同等级生丝测量结果分析 | 第41-45页 |
| 第四章 CV_b%与纤度均方差的关系及CV_(nm)%的意义 | 第45-52页 |
| ·CV_b%与纤度均方差的关系 | 第45-46页 |
| ·CV_b%的概念及计算 | 第45-46页 |
| ·纤度偏差的检验 | 第46页 |
| ·CV_b%与纤度均方差的关系 | 第46页 |
| ·切断变异系数的计算意义 | 第46-52页 |
| ·切断变异系数的概念 | 第46-47页 |
| ·切断变异系数的计算 | 第47-48页 |
| ·切断CV%值对比分析 | 第48-49页 |
| ·CV_(1m)%的计算意义 | 第49-50页 |
| ·实验及结果分析 | 第50-52页 |
| 第五章 基于CompactRIO 的实时检测分析 | 第52-60页 |
| ·现场可编程门阵列（FPGA）简介 | 第52页 |
| ·CompactRIO 简介 | 第52-54页 |
| ·本文所用cRIO 系统配置 | 第54-55页 |
| ·基于cRIO 的实时检测分析 | 第55-60页 |
| ·实时检测的装置 | 第56-57页 |
| ·实时检测程序分析 | 第57-58页 |
| ·实时检测结果分析 | 第58-60页 |
| 第六章 结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 攻读学位期间公开发表的论文 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |