基于机器视觉的IC芯片外观检测系统
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-16页 |
| ·研究的背景和意义 | 第12-13页 |
| ·IC 芯片外观检测的研究现状 | 第13页 |
| ·本文工作以及结构安排 | 第13-15页 |
| ·本章小结 | 第15-16页 |
| 第二章 IC 芯片缺陷检测预处理 | 第16-25页 |
| ·自动光源调节 | 第16-19页 |
| ·自动光源调节系统概述 | 第16-17页 |
| ·光源强度判断方法 | 第17-19页 |
| ·IC 芯片定位 | 第19-21页 |
| ·芯片旋转较正 | 第21-24页 |
| ·芯片旋转较正算法原理 | 第21-23页 |
| ·实验结果与分析 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 IC 芯片管脚位置缺陷检测 | 第25-45页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·基于模板匹配的管脚定位 | 第25-28页 |
| ·模板匹配原理 | 第26-27页 |
| ·使用模板匹配进行管脚定位 | 第27-28页 |
| ·基于区域标识的管脚定位 | 第28-31页 |
| ·区域标识算法 | 第28-30页 |
| ·基于区域标识的管脚定位 | 第30-31页 |
| ·基于二值图扫描的管脚定位 | 第31-34页 |
| ·算法基本原理 | 第31-32页 |
| ·开操作去除噪声点 | 第32-33页 |
| ·二值图扫描定位 | 第33-34页 |
| ·管脚数据测量 | 第34-37页 |
| ·计算管脚的数目 | 第35页 |
| ·计算管脚的面积、长度和宽度 | 第35-36页 |
| ·计算管脚外端间距 | 第36-37页 |
| ·标准参数和阈值的输入 | 第37-38页 |
| ·标准参数的输入 | 第37-38页 |
| ·阈值的输入 | 第38页 |
| ·管脚位置缺陷检测的实现和效果 | 第38-43页 |
| ·缺脚检测 | 第38-39页 |
| ·管脚位置偏移的检测 | 第39页 |
| ·管脚高度偏移的检测 | 第39-41页 |
| ·管脚位置缺陷检测总体流程 | 第41-42页 |
| ·实验结果 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-45页 |
| 第四章 基于HSI 空间的管脚颜色缺陷检测 | 第45-54页 |
| ·颜色空间变换 | 第45-48页 |
| ·RGB 模型和HSI 模型 | 第45-47页 |
| ·从RGB 到HSI 的彩色转换 | 第47-48页 |
| ·基于HSI 空间的管脚颜色缺陷检测 | 第48-51页 |
| ·HSI 空间下的检测原理 | 第48-50页 |
| ·管脚颜色缺陷检测的实现 | 第50-51页 |
| ·实验结果 | 第51-53页 |
| ·本章小节 | 第53-54页 |
| 第五章 IC 芯片表面印刷信息清晰度检测 | 第54-61页 |
| ·印刷信息检测方法 | 第54-58页 |
| ·检测区域定位 | 第54-55页 |
| ·印刷信息完整度检测 | 第55-57页 |
| ·印刷信息清晰度检测 | 第57-58页 |
| ·实验结果及分析 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 第六章 检测系统的设计与实现 | 第61-73页 |
| ·IC 芯片外观检测系统的设计 | 第61-65页 |
| ·系统总体设计 | 第61-63页 |
| ·系统检测流程 | 第63-65页 |
| ·IC 芯片外观检测系统的软件设计 | 第65-69页 |
| ·底层功能模块 | 第67-68页 |
| ·中间层的应用模块 | 第68-69页 |
| ·高层的显示模块 | 第69页 |
| ·双芯片检测 | 第69-70页 |
| ·软件界面介绍 | 第70-71页 |
| ·本章小结 | 第71-73页 |
| 结论 | 第73-74页 |
| 参考文献 | 第74-77页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第77-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
