摘要 | 第3-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
第1章 绪论 | 第9-19页 |
1.1 引言 | 第9-10页 |
1.2 锂离子电池的构成 | 第10-11页 |
1.3 高镍层状正极材料LiNi_(1-x-y)Co_xMn_yO_2(1-x-y≥0.8) | 第11-16页 |
1.3.1 正极材料简介 | 第11页 |
1.3.2 高镍层状正极材料的结构特点 | 第11-12页 |
1.3.3 高镍层状正极材料存在的问题及原因 | 第12-13页 |
1.3.4 高镍层状正极材料的修饰改性研究 | 第13-16页 |
1.4 本文主要研究内容及研究意义 | 第16-19页 |
第2章 实验部分 | 第19-25页 |
2.1 实验药品、试剂与仪器 | 第19-21页 |
2.1.1 药品与试剂 | 第19-20页 |
2.1.2 实验仪器 | 第20-21页 |
2.2 材料的物理表征 | 第21-22页 |
2.2.1 X射线衍射(XRD) | 第21页 |
2.2.2 扫描电子显微镜(SEM) | 第21页 |
2.2.3 透射电子显微镜(TEM) | 第21-22页 |
2.2.4 能谱仪(EDS) | 第22页 |
2.2.5 X射线光电子能谱(XPS) | 第22页 |
2.3 材料的电化学性能表征 | 第22-25页 |
2.3.1 极片的制备及电池的组装 | 第22-23页 |
2.3.2 电化学性能测试 | 第23-25页 |
第3章 不同金属氧化物包覆LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_2的比较 | 第25-35页 |
3.1 引言 | 第25-26页 |
3.2 氧化物包覆样品的制备 | 第26-27页 |
3.2.1 Pr_6O_(11)包覆LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_2样品的制备 | 第26页 |
3.2.2 TiO_2包覆LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_2样品的制备 | 第26页 |
3.2.3 MoO_3包覆LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_2样品的制备 | 第26-27页 |
3.2.4 Co_3O_4包覆LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_2样品的制备 | 第27页 |
3.3 材料表征 | 第27-30页 |
3.3.1 XRD分析 | 第27-28页 |
3.3.2 SEM表征 | 第28-29页 |
3.3.3 EDS表征 | 第29-30页 |
3.4 电化学性能表征 | 第30-32页 |
3.4.1 常温下的首次充放电测试 | 第30-31页 |
3.4.2 常温循环性能测试 | 第31-32页 |
3.4.3 交流阻抗测试 | 第32页 |
3.5 本章总结 | 第32-35页 |
第4章 Co_3O_4包覆对LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_2电性能的影响 | 第35-45页 |
4.1 引言 | 第35页 |
4.2 Co_3O_4包覆LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_2样品的制备 | 第35-36页 |
4.3 材料表征 | 第36-38页 |
4.3.1 XRD分析 | 第36页 |
4.3.2 SEM表征 | 第36-37页 |
4.3.3 TEM表征 | 第37-38页 |
4.4 电化学性能表征 | 第38-43页 |
4.4.1 常温下的首次充放电测试 | 第38-39页 |
4.4.2 常温循环性能测试 | 第39-41页 |
4.4.3 常温下的高倍率性能 | 第41页 |
4.4.4 循环伏安测试 | 第41-42页 |
4.4.5 交流阻抗测试 | 第42-43页 |
4.5 本章总结 | 第43-45页 |
第5章 CeO_2包覆对LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_2电性能的影响 | 第45-63页 |
5.1 引言 | 第45-46页 |
5.2 CeO_2包覆LiNi_(0.8)Co_(0.1)Mn_(0.1)O_2样品的制备 | 第46页 |
5.3 CeO_2包覆样品的表征 | 第46-52页 |
5.3.1 XRD分析 | 第46-47页 |
5.3.2 SEM及EDS分析 | 第47-49页 |
5.3.3 TEM分析 | 第49-50页 |
5.3.4 XPS元素分析 | 第50-52页 |
5.4 电性能分析 | 第52-61页 |
5.4.1 室温下的首次充放电测试 | 第52-53页 |
5.4.2 室温循环性能测试 | 第53-54页 |
5.4.3 室温下的倍率性能 | 第54-55页 |
5.4.4 高温下的首次充放电测试 | 第55-57页 |
5.4.5 高温下的循环性能测试 | 第57-58页 |
5.4.6 循环伏安测试 | 第58-59页 |
5.4.7 交流阻抗测试 | 第59-61页 |
5.5 循环后的SEM图像 | 第61-62页 |
5.6 本章总结 | 第62-63页 |
第6章 结论 | 第63-65页 |
参考文献 | 第65-79页 |
附录 | 第79-81页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第81-83页 |
致谢 | 第83页 |