| 中文摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-15页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第10-14页 |
| 1.2.1 聚合物电介质空间电荷的研究 | 第10-12页 |
| 1.2.2 热老化对PTFE材料性能影响的研究 | 第12-13页 |
| 1.2.3 PTFE介质空间电荷行为的研究 | 第13-14页 |
| 1.3 本文主要工作内容及技术路线 | 第14-15页 |
| 2 试验方法和基本原理 | 第15-21页 |
| 2.1 概述 | 第15页 |
| 2.2 空间电荷测量 | 第15-19页 |
| 2.2.1 空间电荷测量原理 | 第15-17页 |
| 2.2.2 空间电荷测量步骤 | 第17-19页 |
| 2.3 傅里叶红外光谱测量技术 | 第19页 |
| 2.4 交直流击穿试验方法 | 第19-20页 |
| 2.5 宽频介电频谱测量技术 | 第20页 |
| 2.6 本章小结 | 第20-21页 |
| 3 未老化的PTFE绝缘薄膜的空间电荷特性 | 第21-49页 |
| 3.1 概述 | 第21页 |
| 3.2 试验材料及样品预处理 | 第21-22页 |
| 3.2.1 试样制备方法 | 第21-22页 |
| 3.2.2 试样预处理流程 | 第22页 |
| 3.3 不同外施电场下PTFE薄膜空间电荷特性 | 第22-31页 |
| 3.3.1 不同极性直流电场下双层PTFE薄膜空间电荷特性 | 第22-27页 |
| 3.3.2 不同强度直流电场下双层PTFE薄膜空间电荷特性 | 第27-29页 |
| 3.3.3 PTFE/PTFE界面处空间电荷形成机理分析和讨论 | 第29-31页 |
| 3.4 不同层数PTFE薄膜的空间电荷特性 | 第31-35页 |
| 3.4.1 单/双层PTFE薄膜空间电荷特性 | 第31-33页 |
| 3.4.2 单/双层PTFE薄膜陷阱特性 | 第33-35页 |
| 3.5 不同测试温度下PTFE薄膜空间电荷特性 | 第35-46页 |
| 3.5.1 空间电荷特性 | 第36-40页 |
| 3.5.2 内部电场分布特性 | 第40-45页 |
| 3.5.3 内部电场畸变特性 | 第45-46页 |
| 3.6 本章小结 | 第46-49页 |
| 4 不同热老化状态PTFE薄膜空间电荷特性及电气性能 | 第49-69页 |
| 4.1 概述 | 第49页 |
| 4.2 不同热老化时间下PTFE薄膜空间电荷特性 | 第49-52页 |
| 4.2.1 空间电荷积聚特性 | 第49-50页 |
| 4.2.2 空间电荷消散特性 | 第50-52页 |
| 4.3 不同热老化温度下PTFE薄膜空间电荷特性 | 第52-55页 |
| 4.3.1 空间电荷积聚特性 | 第52-53页 |
| 4.3.2 空间电荷消散特性 | 第53-55页 |
| 4.4 空间电荷特征量提取及分析 | 第55-60页 |
| 4.4.1 陷阱能级密度 | 第56页 |
| 4.4.2 空间电荷总量 | 第56-60页 |
| 4.5 热老化对PTFE薄膜理化性能及电气特性的影响 | 第60-67页 |
| 4.5.1 傅里叶红外光谱特性 | 第60-63页 |
| 4.5.2 工频/直流击穿特性 | 第63-65页 |
| 4.5.3 频域介电谱特性 | 第65-67页 |
| 4.6 本章小结 | 第67-69页 |
| 5 结论与展望 | 第69-71页 |
| 5.1 结论 | 第69页 |
| 5.2 展望 | 第69-71页 |
| 致谢 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-79页 |
| 附录 | 第79页 |
| A.作者在攻读硕士学位期间发表论文 | 第79页 |
| B.作者在攻读硕士学位期间参与科研项目 | 第79页 |
