基于连续光谱的颗粒测试方法研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 选题背景 | 第10-11页 |
| 1.2 颗粒粒径测量方法及原理 | 第11-15页 |
| 1.2.1 显微镜法 | 第11页 |
| 1.2.2 筛分法 | 第11-12页 |
| 1.2.3 电感应法 | 第12页 |
| 1.2.4 沉降法 | 第12-13页 |
| 1.2.5 光散射法 | 第13-15页 |
| 1.3 光散射理论的发展 | 第15页 |
| 1.4 光散射测量方法研究现状 | 第15-16页 |
| 1.5 本文主要内容 | 第16-18页 |
| 第二章 测量原理 | 第18-30页 |
| 2.1 光的衍射 | 第18-20页 |
| 2.1.1 惠更斯-菲涅耳原理 | 第18-19页 |
| 2.1.2 巴卑涅原理 | 第19-20页 |
| 2.2 颗粒散射测量原理 | 第20-23页 |
| 2.2.1 光的偏振 | 第20页 |
| 2.2.2 颗粒Mie散射测量理论 | 第20-23页 |
| 2.3 基于连续光谱的颗粒测量方法 | 第23-29页 |
| 2.3.1 连续光谱颗粒测量方法提出的背景 | 第23-24页 |
| 2.3.2 连续光谱散射的颗粒测量方法 | 第24-25页 |
| 2.3.3 模拟及结果 | 第25-29页 |
| 2.4 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 测量系统开发 | 第30-48页 |
| 3.1 空间连续光谱颗粒测量系统 | 第30-33页 |
| 3.2 多波长颗粒测量实验系统的硬件设计 | 第33-44页 |
| 3.2.1 光源选择 | 第34-35页 |
| 3.2.2 单片机芯片选择 | 第35-37页 |
| 3.2.3 电源设计 | 第37页 |
| 3.2.4 A/D转换 | 第37-38页 |
| 3.2.5 串口通讯电路 | 第38-39页 |
| 3.2.6 电机驱动电路 | 第39-41页 |
| 3.2.7 光源驱动电路 | 第41-42页 |
| 3.2.8 烧写程序电路 | 第42页 |
| 3.2.9 去耦电容设计 | 第42-43页 |
| 3.2.10 模拟地与数字地的处理 | 第43-44页 |
| 3.3 硬件电路PCB图的设计 | 第44-46页 |
| 3.4 本章小结 | 第46-48页 |
| 第四章 软件设计 | 第48-58页 |
| 4.1 开发环境介绍 | 第48-50页 |
| 4.2 下位机软件设计 | 第50-56页 |
| 4.2.1 单片机初始化 | 第51-54页 |
| 4.2.2 内部ADC的使用 | 第54-55页 |
| 4.2.3 串口通讯 | 第55-56页 |
| 4.3 本章小结 | 第56-58页 |
| 第五章 基于偏振晶体的光谱功率调整系统开发 | 第58-72页 |
| 5.1 概述 | 第58页 |
| 5.2 工作原理及硬件构成 | 第58-62页 |
| 5.2.1 工作原理 | 第58-59页 |
| 5.2.2 系统原理图 | 第59页 |
| 5.2.3 主要元器件及参数 | 第59-62页 |
| 5.3 电路板设计 | 第62-64页 |
| 5.3.1 电路板功能 | 第62页 |
| 5.3.2 电路原理图 | 第62-63页 |
| 5.3.3 PCB版图 | 第63-64页 |
| 5.4 系统结构及调试 | 第64-65页 |
| 5.5 驱动软件设计 | 第65-70页 |
| 5.6 本章小结 | 第70-72页 |
| 第六章 实验 | 第72-80页 |
| 6.1 空间连续光谱颗粒测量系统 | 第72-75页 |
| 6.1.1 光谱信号采集 | 第72-74页 |
| 6.1.2 结果处理 | 第74-75页 |
| 6.2 多波长颗粒测量实验系统 | 第75-78页 |
| 6.2.1 调试及实验 | 第75-76页 |
| 6.2.2 结果分析 | 第76-78页 |
| 6.3 光谱功率调整系统实验及结果 | 第78-79页 |
| 6.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 第七章 总结与展望 | 第80-82页 |
| 7.1 全文总结 | 第80页 |
| 7.2 下步工作及展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-86页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第86-88页 |
| 致谢 | 第88页 |