| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 论文的研究背景及意义 | 第10页 |
| 1.2 三维测量技术的分类 | 第10-15页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第15-18页 |
| 1.4 本文研究的内容安排 | 第18-20页 |
| 第2章 双目结构光系统设计 | 第20-25页 |
| 2.1 双目结构光测量系统流程 | 第20-21页 |
| 2.2 双目结构光测量系统硬件设计方案 | 第21-22页 |
| 2.3 双目结构光测量系统软件设计方案 | 第22-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 双目结构光系统的编码与解码 | 第25-44页 |
| 3.1 结构光编码策略简介 | 第25-30页 |
| 3.1.1 时空编码 | 第26-27页 |
| 3.1.2 直接编码 | 第27-28页 |
| 3.1.3 空间邻域编码 | 第28-30页 |
| 3.2 彩色条纹结构光编码设计 | 第30-38页 |
| 3.2.1 De Bruijn的数学模型 | 第31-32页 |
| 3.2.2 基于De Bruijn的灰度结构光编码 | 第32-35页 |
| 3.2.3 基于De Bruijn的彩色结构光编码 | 第35-38页 |
| 3.3 彩色条纹结构光解码设计 | 第38-43页 |
| 3.3.1 颜色聚类与条纹标签识别 | 第38-41页 |
| 3.3.2 结构光条纹匹配 | 第41-43页 |
| 3.4 本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 双目结构光系统视差计算 | 第44-62页 |
| 4.1 图像的平滑滤波 | 第44-49页 |
| 4.2 条纹中心线的粗提取算法设计 | 第49-53页 |
| 4.3 亚像素级条纹中心线定位算法设计 | 第53-61页 |
| 4.3.1 亚像素级边缘检测 | 第54-58页 |
| 4.3.2 亚像素级条纹中心线定位算法设计 | 第58-61页 |
| 4.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第5章 双目结构光系统三维重建与精度分析 | 第62-73页 |
| 5.1 三维重建原理 | 第62-68页 |
| 5.1.1 相机标定 | 第62-65页 |
| 5.1.2 立体校正 | 第65-67页 |
| 5.1.3 空间点三维重建 | 第67-68页 |
| 5.2 三维重建结果 | 第68-69页 |
| 5.3 标准平面重建精度分析 | 第69-71页 |
| 5.4 本章小结 | 第71-73页 |
| 总结与展望 | 第73-75页 |
| 参考文献 | 第75-79页 |
| 附录A 攻读学位期间发表的学术论文 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80页 |