摘要 | 第12-14页 |
ABSTRACT | 第14-16页 |
符号列表 | 第17-19页 |
缩略语表 | 第19-21页 |
第一章 绪论 | 第21-39页 |
1.1 研究背景及意义 | 第21-22页 |
1.2 涡旋电磁波研究现状 | 第22-37页 |
1.2.1 涡旋电磁波研究发展概况 | 第22-24页 |
1.2.2 涡旋电磁波产生方法 | 第24-28页 |
1.2.3 涡旋电磁波辐射场特性与测量 | 第28-31页 |
1.2.4 涡旋电磁波应用 | 第31-37页 |
1.3 论文主要内容及组织结构 | 第37-39页 |
第二章 基于涡旋电磁波的雷达成像理论基础 | 第39-65页 |
2.1 引言 | 第39页 |
2.2 轨道角动量与涡旋电磁波 | 第39-41页 |
2.3 电磁涡旋成像方位分辨原理 | 第41-47页 |
2.3.1 基于波前调制的雷达成像原理对比 | 第42-45页 |
2.3.2 电磁涡旋成像原理框架 | 第45-47页 |
2.4 基于均匀圆阵的涡旋电磁波产生 | 第47-52页 |
2.4.1 均匀圆阵产生涡旋电磁波原理 | 第47-50页 |
2.4.2 数值仿真结果 | 第50-52页 |
2.5 螺旋阵列产生涡旋电磁波 | 第52-57页 |
2.5.1 螺旋阵列设计与方向图推导 | 第53-54页 |
2.5.2 数值仿真与结果分析 | 第54-57页 |
2.6 涡旋电磁波产生及成像原理验证系统 | 第57-63页 |
2.6.1 涡旋电磁波产生及测量实验系统 | 第57-61页 |
2.6.2 电磁涡旋成像原理验证实验系统 | 第61-63页 |
2.7 本章小结 | 第63-65页 |
第三章 涡旋电磁波辐射场强度和模态分布 | 第65-101页 |
3.1 引言 | 第65-66页 |
3.2 涡旋电磁波辐射强度特征 | 第66-74页 |
3.2.1 辐射方向性 | 第67-70页 |
3.2.2 方向图旁瓣抑制 | 第70-73页 |
3.2.3 辐射强度实验测量结果 | 第73-74页 |
3.3 模态分布与模态纯度 | 第74-88页 |
3.3.1 模态分布规律 | 第75-78页 |
3.3.2 模态纯度表征 | 第78-88页 |
3.4 纯态区域范围 | 第88-94页 |
3.4.1 纯态区域大小确定方法 | 第88-92页 |
3.4.2 主瓣位于纯态区域的条件 | 第92-94页 |
3.5 阵列误差对涡旋电磁波模态纯度的影响 | 第94-100页 |
3.5.1 通道幅相误差对涡旋电磁波模态纯度的影响 | 第95-99页 |
3.5.2 波束轴对准误差对模态纯度计算结果的影响 | 第99-100页 |
3.6 本章小结 | 第100-101页 |
第四章 基于傅里叶变换的电磁涡旋成像方法 | 第101-127页 |
4.1 引言 | 第101页 |
4.2 电磁涡旋成像数学模型 | 第101-104页 |
4.3 目标大俯仰角情况下傅里叶变换法成像 | 第104-114页 |
4.3.1 大俯仰角时傅里叶变换方法成像原理 | 第104-108页 |
4.3.2 大俯仰角时的伪像问题 | 第108-110页 |
4.3.3 仿真成像实验 | 第110-114页 |
4.4 目标小俯仰角情况下傅里叶变换法成像 | 第114-121页 |
4.4.1 目标小俯仰角时成像可行性 | 第114-116页 |
4.4.2 最小俯仰角条件及成像性能 | 第116-119页 |
4.4.3 仿真成像实验 | 第119-121页 |
4.5 电磁涡旋成像与其他成像方法对比 | 第121-126页 |
4.6 本章小结 | 第126-127页 |
第五章 基于波束调向的电磁涡旋成像方法 | 第127-147页 |
5.1 引言 | 第127-128页 |
5.2 同心圆环阵列波束调向成像方法 | 第128-135页 |
5.2.1 同心圆环阵列设计 | 第128-131页 |
5.2.2 同心圆阵成像处理 | 第131-135页 |
5.3 基于相控阵技术的波束调向成像方法 | 第135-145页 |
5.3.1 波束调向方法及方向图推导 | 第135-142页 |
5.3.2 波束调向后的成像处理 | 第142-145页 |
5.4 本章小结 | 第145-147页 |
第六章 电磁涡旋成像实验结果及分辨率提升 | 第147-171页 |
6.1 引言 | 第147页 |
6.2 单天线接收情况下的成像处理 | 第147-154页 |
6.2.1 单天线接收成像模型 | 第147-149页 |
6.2.2 回波相位补偿预处理 | 第149-151页 |
6.2.3 方位成像实验结果 | 第151-154页 |
6.3 方位分辨率提升方法 | 第154-164页 |
6.3.1 谱估计方法 | 第154-157页 |
6.3.2 正则化方法 | 第157-161页 |
6.3.3 实测数据成像结果 | 第161-164页 |
6.4 成像质量影响因素 | 第164-168页 |
6.4.1 成像模型误差 | 第165-167页 |
6.4.2 噪声 | 第167页 |
6.4.3 模型阶数 | 第167-168页 |
6.5 本章小结 | 第168-171页 |
第七章 总结与展望 | 第171-177页 |
7.1 本文工作总结 | 第171-174页 |
7.2 下一步工作与展望 | 第174-177页 |
致谢 | 第177-179页 |
参考文献 | 第179-197页 |
作者在学期间取得的学术成果 | 第197-199页 |