| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第10-26页 |
| 1.1 水资源现状 | 第10页 |
| 1.2 膜分离技术概述 | 第10-12页 |
| 1.2.1 膜分离的定义及分类 | 第10-11页 |
| 1.2.2 膜分离的基本原理及特点 | 第11-12页 |
| 1.3 超滤膜制备的研究现状 | 第12-19页 |
| 1.3.1 常用有机高分子膜材料 | 第12-13页 |
| 1.3.2 相转化制膜法 | 第13-14页 |
| 1.3.3 相转化法制膜机理与影响因素 | 第14-17页 |
| 1.3.4 PVDF成膜影响条件 | 第17-19页 |
| 1.4 PVDF膜的改性研究 | 第19-21页 |
| 1.4.1 基体改性 | 第19-21页 |
| 1.4.2 膜表面改性 | 第21页 |
| 1.5 中空纤维膜高强度化的研究进展 | 第21-26页 |
| 2 课题来源及研究路线 | 第26-30页 |
| 2.1 课题的提出 | 第26-27页 |
| 2.2 课题的研究内容 | 第27页 |
| 2.3 课题研究的技术路线 | 第27-30页 |
| 3 实验材料及方法 | 第30-36页 |
| 3.1 试验材料与试剂 | 第30页 |
| 3.2 试验仪器和装置 | 第30-31页 |
| 3.3 内支撑中空纤维膜的制备方法 | 第31-32页 |
| 3.4 内支撑型中空纤维杂化膜的性能表征 | 第32-35页 |
| 3.4.1 杂化内支撑膜物理特征测定 | 第32-34页 |
| 3.4.2 杂化内支撑膜分离性能测定 | 第34-35页 |
| 3.5 膜微观表征 | 第35-36页 |
| 3.5.1 杂化膜表面SEM表征 | 第35页 |
| 3.5.2 原子力显微镜（AFM） | 第35页 |
| 3.5.3 X射线衍射图谱（XRD） | 第35-36页 |
| 4 纳米SiO_2杂化内支撑型中空纤维膜的制备研究 | 第36-50页 |
| 4.1 纳米SiO_2杂化内支撑中空纤维膜制备工艺 | 第36页 |
| 4.2 内支撑中空纤维膜形态结构 | 第36-37页 |
| 4.3 纳米SiO_2对膜表面形貌的影响 | 第37-39页 |
| 4.4 纳米SiO_2对内支撑中空纤维膜结构及分离性能的影响 | 第39-43页 |
| 4.4.1 纳米SiO_2对孔隙率和平均孔径的影响 | 第39-40页 |
| 4.4.2 纳米SiO_2含量对膜分离性能的影响 | 第40页 |
| 4.4.3 纳米SiO_2对接触角的影响 | 第40-41页 |
| 4.4.4 杂化膜中PVDF晶体结构分析 | 第41-42页 |
| 4.4.5 膜表面的AFM表征 | 第42-43页 |
| 4.5 PVP浓度对杂化膜性能的影响 | 第43-46页 |
| 4.5.1 PVP含量对水通量和截留率的影响 | 第44页 |
| 4.5.2 PVP含量对孔隙率的影响 | 第44-45页 |
| 4.5.3 PVP含量对平均孔径和爆破压力的影响 | 第45-46页 |
| 4.6 PVDF浓度对杂化膜性能的影响 | 第46-47页 |
| 4.6.1 PVDF含量对纯水通量和BSA截留率的影响 | 第46页 |
| 4.6.2 PVDF含量对孔隙率及平均孔径的影响 | 第46-47页 |
| 4.7 本章小结 | 第47-50页 |
| 5 纳米SiO--_2杂化内支撑型中空纤维膜抗污染性能研究 | 第50-54页 |
| 5.1 抗污染性能方法及原理 | 第50-52页 |
| 5.1.1 膜通量衰减试验 | 第50页 |
| 5.1.2 膜污染阻力 | 第50-51页 |
| 5.1.3 膜通量衰减率 | 第51页 |
| 5.1.4 污染膜的清洗及恢复评价 | 第51-52页 |
| 5.2 膜抗污染性能特征分析 | 第52-53页 |
| 5.3 本章小结 | 第53-54页 |
| 6 结论与展望 | 第54-56页 |
| 6.1 结论 | 第54-55页 |
| 6.2 展望 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-64页 |
| 附录 | 第64页 |
