| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-21页 |
| 1.1 课题提出背景及研究意义 | 第10页 |
| 1.2 光通信滤光片外观缺陷检测技术指标 | 第10-11页 |
| 1.3 论文相关内容的国内外研究进展 | 第11-19页 |
| 1.4 论文主要研究内容及章节安排 | 第19-21页 |
| 第二章 基于 JIEFS 的滤光片外观缺陷检测框架 | 第21-31页 |
| 2.1 引言 | 第21页 |
| 2.2 滤光片外观缺陷检测总体需求 | 第21-22页 |
| 2.3 滤光片外观缺陷检测机理 | 第22-29页 |
| 2.3.1 系统总体结构框架 | 第22-23页 |
| 2.3.2 滤光片外观缺陷检测原理及各部分功能 | 第23-28页 |
| 2.3.3 滤光片外观缺陷检测工作流程 | 第28-29页 |
| 2.4 滤光片外观缺陷检测关键技术 | 第29-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 基于联合信息熵特征选择算法研究 | 第31-51页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 滤光片外观缺陷特征提取 | 第31-34页 |
| 3.3 基于信息论的典型特征选择算法 | 第34-40页 |
| 3.3.1 信息论与度量 | 第34-37页 |
| 3.3.2 基于信息论的典型特征选择算法 | 第37-40页 |
| 3.4 基于联合信息熵的特征选择算法 | 第40-44页 |
| 3.4.1 联合信息熵与特征选择 | 第40-41页 |
| 3.4.2 基于联合信息熵的特征选择算法设计 | 第41-44页 |
| 3.5 基于联合信息熵的特征选择算法验证 | 第44-49页 |
| 3.5.1 实验设置 | 第45-46页 |
| 3.5.2 实验结果及讨论 | 第46-49页 |
| 3.6 本章小结 | 第49-51页 |
| 第四章 基于 SVM 的滤光片缺陷分类技术研究 | 第51-59页 |
| 4.1 引言 | 第51页 |
| 4.2 基于二分类 SVM 的多类机理研究 | 第51-54页 |
| 4.3 基于 DAG-SVM 的滤光片缺陷分类器设计 | 第54-58页 |
| 4.3.1 基于 DAG-SVM 的分类算法设计 | 第54-56页 |
| 4.3.2 基于 DAG-SVM 分类器的参数设计 | 第56-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 基于 JIEFS 的滤光片外观缺陷检测实验 | 第59-70页 |
| 5.1 引言 | 第59页 |
| 5.2 滤光片外观缺陷检测实验环境及流程 | 第59-63页 |
| 5.2.1 实验设备 | 第59-63页 |
| 5.2.2 实验流程 | 第63页 |
| 5.3 实验结果与分析 | 第63-68页 |
| 5.3.1 滤光片图像预处理 | 第64-65页 |
| 5.3.2 基于 JIEFS 算法的滤光片特征选择结果 | 第65-66页 |
| 5.3.3 滤光片缺陷分类结果 | 第66-68页 |
| 5.4 本章小结 | 第68-70页 |
| 结论 | 第70-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
| 附件 | 第78页 |
