基于UG在机测量系统的关键技术研究
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-18页 |
1.1 课题的研究背景 | 第11-12页 |
1.2 课题来源及研究目的和意义 | 第12-14页 |
1.2.1 课题来源 | 第12页 |
1.2.2 课题的研究目的和意义 | 第12-14页 |
1.3 国内外在机测量的研究现状 | 第14-17页 |
1.3.1 国内外在机测量软件的研究现状 | 第14-16页 |
1.3.2 国内外在机测量的关键技术研究现状 | 第16-17页 |
1.4 本文主要研究内容 | 第17-18页 |
第2章 在机测量系统与测头半径补偿算法的研究 | 第18-35页 |
2.1 在机测量系统的实现 | 第18-19页 |
2.1.1 在机测量系统的搭建 | 第18页 |
2.1.2 基于 UG 的在机测量软件开发 | 第18-19页 |
2.2 测量系统的组成与原理 | 第19-21页 |
2.2.1 测头的硬件组成 | 第20页 |
2.2.2 测头的工作原理 | 第20-21页 |
2.3 偏置面加小平面算法原理与分析 | 第21-34页 |
2.3.1 主流测头半径补偿算法的分析 | 第22-28页 |
2.3.2 针对二维曲面(柱面)的半径补偿方法 | 第28-31页 |
2.3.3 针对三维自由曲面的半径补偿方法 | 第31-34页 |
2.4 本章小结 | 第34-35页 |
第3章 在机测量的测量点选择 | 第35-51页 |
3.1 测量点采样方法归类和比较 | 第36-37页 |
3.1.1 测量点的采样归类 | 第36页 |
3.1.2 测量点的采样法优劣比较 | 第36-37页 |
3.2 测量点选用准则与影响因素 | 第37-39页 |
3.2.1 测量点选用准则 | 第38页 |
3.2.2 测量点选用的影响因素 | 第38-39页 |
3.3 测量点采样方法的分析 | 第39-44页 |
3.3.1 等步长采样法分析 | 第39-40页 |
3.3.2 等弧长采样法分析 | 第40-41页 |
3.3.3 圆弧插值采样法分析 | 第41-42页 |
3.3.4 自适应采样法分析 | 第42-43页 |
3.3.5 高次多项式法采样法分析 | 第43-44页 |
3.4 基于特征的测量点选择原理 | 第44-50页 |
3.4.1 形状特征对测量点的影响 | 第45-46页 |
3.4.2 基于特征的测量点的确定及实现方式 | 第46-50页 |
3.5 本章小结 | 第50-51页 |
第4章 在机测量的路径规划研究 | 第51-58页 |
4.1 路径规划时的考虑因素 | 第52-55页 |
4.1.1 工件坐标系的转换 | 第52-53页 |
4.1.2 测量方案制订 | 第53-54页 |
4.1.3 不规则曲面的划分 | 第54页 |
4.1.4 其它因素的影响 | 第54-55页 |
4.2 测量路径的避障点选择及整个测量实现方式 | 第55-57页 |
4.2.1 避障点的确定及选用原则 | 第55-56页 |
4.2.2 测量的整体实现方式 | 第56-57页 |
4.3 本章小结 | 第57-58页 |
第5章 复杂曲面模具在机测量实验 | 第58-75页 |
5.1 实验平台及测量工件的介绍 | 第58-61页 |
5.1.1 实验平台的软件及硬件介绍 | 第58-60页 |
5.1.2 实验测量工件 | 第60-61页 |
5.2 实验验证 | 第61-74页 |
5.2.1 实验程序的验证 | 第62-66页 |
5.2.2 在机测量实验验证 | 第66-67页 |
5.2.3 三坐标测量仪验证 | 第67-68页 |
5.2.4 实验数据的对比 | 第68-74页 |
5.3 本章小结 | 第74-75页 |
结论 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-80页 |
攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第80-81页 |
致谢 | 第81页 |