| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 符号对照表 | 第14-16页 |
| 缩略语对照表 | 第16-20页 |
| 第一章 绪论 | 第20-26页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第20-21页 |
| 1.1.1 电子器件的低频噪声 | 第20页 |
| 1.1.2 热敏电阻型红外探测器 | 第20-21页 |
| 1.2 国内外相关研究概况与存在问题 | 第21-24页 |
| 1.2.1 存在的问题 | 第21页 |
| 1.2.2 低频噪声理论的发展 | 第21-22页 |
| 1.2.3 噪声测试技术与测试方法的发展 | 第22-23页 |
| 1.2.4 锰钴镍氧化物薄膜型红外探测器的导电机理 | 第23页 |
| 1.2.5 锰钴镍氧化物薄膜型红外探测器的噪声特性与噪声机理 | 第23-24页 |
| 1.3 本文研究内容及安排 | 第24-26页 |
| 第二章 电子器件的噪声与噪声模型 | 第26-34页 |
| 2.1 电子器件中的噪声与噪声特性 | 第26-29页 |
| 2.1.1 电子器件中噪声的分类 | 第26-27页 |
| 2.1.2 电子器件中噪声的特性 | 第27-29页 |
| 2.2 电子器件的噪声模型 | 第29-32页 |
| 2.2.1 热噪声模型 | 第29-30页 |
| 2.2.2 散粒噪声模型 | 第30页 |
| 2.2.3 G-R噪声模型 | 第30-31页 |
| 2.2.4 1/f噪声模型 | 第31-32页 |
| 2.3 小结 | 第32-34页 |
| 第三章 锰钴镍氧化物薄膜型红外探测器的噪声测试技术 | 第34-82页 |
| 3.1 锰钴镍氧化物薄膜型红外探测器 | 第34-40页 |
| 3.1.1 红外探测器在地球敏感器中的应用 | 第34-35页 |
| 3.1.2 红外探测器物理基础 | 第35-36页 |
| 3.1.3 半导体热敏电阻的阻温特性 | 第36页 |
| 3.1.4 NTC热敏半导体陶瓷 | 第36-37页 |
| 3.1.5 锰钴镍三元系金属氧化物NTC型热敏电阻 | 第37-38页 |
| 3.1.6 锰钴镍氧化物薄膜型红外探测器的制备 | 第38-40页 |
| 3.2 红外探测器低频噪声测试技术 | 第40-72页 |
| 3.2.1 红外探测器噪声测试系统的噪声参量 | 第40-42页 |
| 3.2.2 噪声测试系统的组成与性能指标 | 第42-45页 |
| 3.2.3 噪声测试适配器技术研究 | 第45-53页 |
| 3.2.4 低噪声偏置电源设计技术研究 | 第53-58页 |
| 3.2.5 低噪声前置放大器设计技术研究 | 第58-63页 |
| 3.2.6 带通滤波器设计技术研究 | 第63-65页 |
| 3.2.7 噪声采集与分析系统设计技术研究 | 第65-72页 |
| 3.3 噪声测试与分析系统 | 第72-79页 |
| 3.3.1 红外探测器低频噪声测试系统 | 第72-76页 |
| 3.3.2 热敏电阻薄片噪声测试系统 | 第76-79页 |
| 3.4 小结 | 第79-82页 |
| 第四章 红外探测器的导电机理与噪声特性 | 第82-96页 |
| 4.1 NTC热敏电阻薄片的导电机理 | 第82-90页 |
| 4.1.1 尖晶石晶体的结构特征 | 第82-83页 |
| 4.1.2 尖晶石晶体的导电模型 | 第83-84页 |
| 4.1.3 锰钴镍氧化物型热敏电阻的导电机理 | 第84-90页 |
| 4.2 锰钴镍氧化物薄膜型红外探测器的噪声机理与噪声模型 | 第90-95页 |
| 4.2.1 管壳密封性的噪声机理 | 第90页 |
| 4.2.2 浸没介质的噪声机理 | 第90-91页 |
| 4.2.3 电极接触的噪声机理 | 第91-92页 |
| 4.2.4 热敏电阻体的噪声机理 | 第92-93页 |
| 4.2.5 热敏电阻体的噪声模型 | 第93-95页 |
| 4.3 小结 | 第95-96页 |
| 第五章 红外探测器的噪声特性与可靠性表征 | 第96-108页 |
| 5.1 红外探测器的典型噪声特性 | 第96-100页 |
| 5.1.1 热噪声 | 第96页 |
| 5.1.2 非热噪声 | 第96-100页 |
| 5.2 红外探测器低频噪声的应力特性 | 第100-104页 |
| 5.2.1 电应力对探测器噪声的影响 | 第100-101页 |
| 5.2.2 温度应力对探测器噪声的影响 | 第101-102页 |
| 5.2.3 电离辐照对探测器噪声的影响 | 第102-104页 |
| 5.3 红外探测器可靠性的表征方法 | 第104-106页 |
| 5.3.1 红外探测器可靠性的常规表征方法 | 第104页 |
| 5.3.2 红外探测器可靠性的敏感参量分析 | 第104-105页 |
| 5.3.3 红外探测器可靠性的低频噪声表征方法 | 第105-106页 |
| 5.4 本章小结 | 第106-108页 |
| 第六章 结论和展望 | 第108-110页 |
| 参考文献 | 第110-120页 |
| 致谢 | 第120-122页 |
| 作者简介 | 第122-124页 |
