摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
目录 | 第8-11页 |
第一章 文献综述 | 第11-21页 |
1.1 前言 | 第11-12页 |
1.2 ZnO和ZIO的研究 | 第12-15页 |
1.2.1 ZnO的基本性质 | 第12-13页 |
1.2.2 铟掺杂ZnO薄膜特性和研究 | 第13页 |
1.2.3 一维ZnO纳米结构表面润湿性能的研究 | 第13-15页 |
1.3 ZnO纳米材料的研究进展 | 第15-19页 |
1.3.1 纳米ZnO粉体的研究进展 | 第15页 |
1.3.2 ZnO薄膜的研究进展 | 第15-18页 |
1.3.3 ZIO薄膜的研究进展 | 第18-19页 |
1.4 本课题的研究内容及意义 | 第19-21页 |
第二章 实验内容及表征方法 | 第21-31页 |
2.1 实验试剂与仪器 | 第21-22页 |
2.1.1 实验试剂 | 第21页 |
2.1.2 仪器和设备 | 第21-22页 |
2.2 实验步骤 | 第22-27页 |
2.2.1 粉体-涂料-镀膜法制备ZIO薄膜 | 第22-24页 |
2.2.2 定向生长ZIO纳米阵列 | 第24-27页 |
2.3 性能表征 | 第27-31页 |
2.3.1 透射电子显微镜 | 第27页 |
2.3.2 X-射线衍射分析 | 第27页 |
2.3.3 扫描电子显微镜 | 第27页 |
2.3.4 可见光、紫外光透过率 | 第27-28页 |
2.3.5 薄膜隔热效果测试 | 第28页 |
2.3.6 薄膜润湿角测试 | 第28-29页 |
2.3.7 薄膜铅笔硬度 | 第29页 |
2.3.8 薄膜附着力 | 第29-30页 |
2.3.9 热重分析 | 第30页 |
2.3.10 激光粒度分析分析 | 第30-31页 |
第三章 ZIO薄膜的涂膜制备和性能表征 | 第31-48页 |
3.1 In掺杂浓度对ZIO粉体的影响 | 第31-34页 |
3.1.1 ZIO粉体的晶体结构的研究 | 第31-32页 |
3.1.2 ZIO的粒度分布的研究 | 第32-34页 |
3.2 沉淀剂种类对ZIO的影响 | 第34-39页 |
3.2.1 ZIO粉体的晶体结构的研究 | 第34-35页 |
3.2.2 ZIO粉体微观形貌的研究 | 第35-37页 |
3.2.3 ZIO纳米晶生长机理 | 第37-39页 |
3.3 ZIO膜的制备和性能研究 | 第39-47页 |
3.3.1 ZIO膜的微观形貌分析 | 第39-42页 |
3.3.2 成膜工艺对ZIO薄膜的物理性能影响 | 第42-43页 |
3.3.3 ZIO薄膜隔热效果表征 | 第43-47页 |
3.4 本章小结 | 第47-48页 |
第四章 定向生长ZIO阵列薄膜和性能表征 | 第48-78页 |
4.1 ZIO纳米阵列结构研究 | 第48-52页 |
4.1.1 纳米ZIO粒子的热重分析 | 第48-49页 |
4.1.2 ZIO纳米阵列择优取向的研究 | 第49-51页 |
4.1.3 ZIO纳米阵列生长机理的探讨 | 第51-52页 |
4.2 铟掺杂量对ZIO阵列薄膜的影响 | 第52-62页 |
4.2.1 ZIO阵列薄膜微观形貌的研究 | 第52-54页 |
4.2.2 ZIO阵列薄膜润湿性的研究 | 第54-56页 |
4.2.3 ZIO阵列薄膜晶体结构的研究 | 第56-58页 |
4.2.4 ZIO阵列薄膜的物理性能的研究 | 第58-60页 |
4.2.5 ZIO阵列薄膜的隔热性能的研究 | 第60-62页 |
4.3 反应浓度对ZIO阵列薄膜的影响 | 第62-68页 |
4.3.1 ZIO阵列薄膜晶格结构的研究 | 第62-63页 |
4.3.2 ZIO阵列薄膜微观结构和润湿性能的研究 | 第63-65页 |
4.3.3 ZIO阵列薄膜物理性能的研究 | 第65-66页 |
4.3.4 ZIO阵列薄膜隔热性能的研究 | 第66-68页 |
4.4 反应温度和反应时间对ZIO阵列薄膜的影响 | 第68-77页 |
4.4.1 ZIO阵列薄膜晶格结构的研究 | 第68-69页 |
4.4.2 ZIO阵列薄膜微观形貌和润湿角的研究 | 第69-70页 |
4.4.3 ZIO阵列薄膜物理性能的研究 | 第70-72页 |
4.4.4 ZIO阵列薄膜的隔热性能的研究 | 第72-77页 |
4.5 本章小结 | 第77-78页 |
第五章 结论 | 第78-79页 |
参考文献 | 第79-89页 |
附录 | 第89-90页 |
致谢 | 第90页 |